靜電放電（ESD）近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電磁場(chǎng)近場(chǎng)耦合探頭套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，采用近場(chǎng)電磁耦合的方式將100V-16kV的靜電放電(ESD)電壓耦合到電路中，從而找到敏感源頭位置，從而提高產(chǎn)品的靜電放電抗擾能力。普遍用于2/3/4/5G手機(jī)、藍(lán)牙、WiFi、物聯(lián)網(wǎng)無(wú)線終端模塊、儀器儀表等行業(yè)，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、靜電放電敏感源頭定位、器件選型靜電放電性能評(píng)估、更新方案設(shè)計(jì)的靜電放電抗干擾性能評(píng)估等方面。用戶(hù)可以自行對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行測(cè)試，而不必依賴(lài)另外一個(gè)部門(mén)、測(cè)試工程師或進(jìn)行耗時(shí)的場(chǎng)外測(cè)試。長(zhǎng)沙近場(chǎng)掃描優(yōu)點(diǎn)

近場(chǎng)掃描分系統(tǒng)是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，于2016年12月1日啟用。用擴(kuò)展光源照射光纖輸入端面，而在光纖輸出端面上逐點(diǎn)測(cè)量出射度，從而測(cè)出光纖折射率分布以及其他幾何特性參數(shù)的測(cè)試方法。也可用于測(cè)量模場(chǎng)直徑，其條件是要使輸入端面照明只激勵(lì)光纖基模。此法被推薦作為幾何參數(shù)測(cè)定的基準(zhǔn)測(cè)試法和單模光纖模場(chǎng)直徑的替代測(cè)試法，也被推薦作為多模光纖幾何參數(shù)和折射率分布測(cè)定的替代測(cè)試法。低頻測(cè)量更準(zhǔn)確，不需要房間校準(zhǔn)曲線。廣東快速近場(chǎng)掃描優(yōu)點(diǎn)SSCG功能為“開(kāi)”時(shí)的EMI輻射特性 。

近場(chǎng)掃描系統(tǒng)的制作方法：測(cè)量一件介質(zhì)板對(duì)電磁波的響應(yīng)特征，需要用一個(gè)饋源發(fā)射電磁波，然后用一個(gè)采集設(shè)備來(lái)采集饋源發(fā)出的電磁波穿過(guò)該介質(zhì)板后的電磁波其空間各個(gè)點(diǎn)的電磁特性，然后利用處理設(shè)備將檢測(cè)到的空間各點(diǎn)的電磁特性值記錄下來(lái)并進(jìn)行分析，通過(guò)對(duì)比有、無(wú)介質(zhì)板電磁參數(shù)特性的變化，推導(dǎo)出介質(zhì)材料對(duì)電磁波的響應(yīng)特性。以上過(guò)程需要通過(guò)三維近場(chǎng)掃描系統(tǒng)完成。現(xiàn)有的三維近場(chǎng)掃描系統(tǒng)，饋源、介質(zhì)板及采集單元的位置都是手工調(diào)節(jié)的，測(cè)試效率低，定位又不準(zhǔn)確。

在任何新PCB的開(kāi)發(fā)過(guò)程中，設(shè)計(jì)工程師都必須找出設(shè)計(jì)之外的輻射體或射頻泄漏，并對(duì)其進(jìn)行描述和處理以通過(guò)一致性測(cè)試?？赡艿妮椛潴w包括高速、大功率器件以及具有高密度或高復(fù)雜度的器件。掃描系統(tǒng)以疊加在Gerber文件上的形式顯示空間輻射特性，因此測(cè)試人員可以準(zhǔn)確地找出所有輻射問(wèn)題的來(lái)源?？焖俅判詷O近場(chǎng)測(cè)量?jī)x器可以捕獲和顯示頻譜和實(shí)時(shí)空間掃描結(jié)果的可視圖像。芯片廠商和PCB設(shè)計(jì)工程師可以?huà)呙枞魏我粔K電路板，并識(shí)別出50kHz至4GHz頻率范圍內(nèi)的恒定或時(shí)基的輻射源。這種掃描技術(shù)有助于快速解決普遍的電磁設(shè)計(jì)問(wèn)題，包括濾波、屏蔽、共模、電流分布、抗干擾性和寬帶噪聲。設(shè)計(jì)工程師可以在采取了相應(yīng)的解決措施之后，對(duì)器件進(jìn)行重新測(cè)試并立即量化出校正設(shè)計(jì)后的效果?？焖贉y(cè)量：標(biāo)準(zhǔn)3D聲學(xué)測(cè)量，可在不到20分鐘內(nèi)完成典型兩分頻系統(tǒng)的聲功率測(cè)量。

EMI近場(chǎng)輻射特性：新一代串行解串器例子這是同一家半導(dǎo)體供應(yīng)商的第二個(gè)例子，該公司開(kāi)發(fā)了一個(gè)通過(guò)串行解串器進(jìn)行點(diǎn)到點(diǎn)傳輸?shù)牡诙酒M解決方案。在第三代芯片組中，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)采用了一種不同的技術(shù)并升級(jí)了傳輸能力。他們將雙向控制通道一起嵌入高速串行鏈路中，從而實(shí)現(xiàn)了雙向傳輸（全雙工）。對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較之后，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)發(fā)現(xiàn)由于使用了SSCG功能導(dǎo)致電磁輻射顯著減少。汽車(chē)電子工程師很大的挑戰(zhàn)在于減少EMI輻射?？蛻?hù)支持團(tuán)隊(duì)每次向汽車(chē)廠商客戶(hù)展示這些結(jié)果時(shí)，他們普遍都表現(xiàn)出了極大的興趣。任何降低EMI的功能（此案例中為SSCG功能）都可以縮短上市時(shí)間、降低屏蔽和成本支出。將原來(lái)的半雙工板放在掃描儀上，進(jìn)行基線測(cè)量。長(zhǎng)沙近場(chǎng)掃描優(yōu)點(diǎn)

近場(chǎng)掃描儀的特點(diǎn)：適用于大型揚(yáng)聲器：由于揚(yáng)聲器不移動(dòng)，因此可以測(cè)量大型揚(yáng)聲器。長(zhǎng)沙近場(chǎng)掃描優(yōu)點(diǎn)

電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，通過(guò)探頭實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確采集，通過(guò)空間移動(dòng)平臺(tái)和計(jì)算機(jī)協(xié)調(diào)工作實(shí)現(xiàn)對(duì)探頭位置的準(zhǔn)確控制，通過(guò)顯微攝像裝置準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)探頭與待測(cè)物品之間的距離，從而能夠準(zhǔn)確獲得待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描結(jié)果，另外，探頭在掃描待測(cè)物品電磁場(chǎng)近場(chǎng)時(shí)，采用逐點(diǎn)掃描，實(shí)時(shí)采集傳輸，即每一次探頭移動(dòng)，均采集一次數(shù)據(jù)并及時(shí)將采集到的數(shù)據(jù)發(fā)送至信號(hào)分析裝置，避免掃描過(guò)程中，掃描裝置自身對(duì)待測(cè)物品電磁場(chǎng)近場(chǎng)的影響，以及數(shù)據(jù)采集延時(shí)對(duì)信號(hào)準(zhǔn)確度的影響，從而更進(jìn)一步提高了掃描的精度和掃描結(jié)果的準(zhǔn)確度。長(zhǎng)沙近場(chǎng)掃描優(yōu)點(diǎn)