電源濾波器的衰減特性也可由頻譜分析儀和追隨信號(hào)發(fā)生器來完成。追隨信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生一已知電平的掃描頻率信號(hào)而通過頻譜分析儀來追隨觀察。將濾波器放在發(fā)生器輸出和頻譜分析儀輸入之間，就可以得到其衰減特性。發(fā)生器輸出電平與頻譜分析儀接收到的電平之差等于該濾波器所提供的衰減。濾波器測(cè)試裝置的源和負(fù)載阻抗一般為50Ω，以便與濾波器生產(chǎn)廠家提供的典型衰減曲線相比較。應(yīng)當(dāng)注意，在實(shí)際使用過程當(dāng)中，濾波器的衰減值可能與提供的典型曲線有很大出入，這是因?yàn)閷?shí)際與濾波器相連的網(wǎng)絡(luò)阻抗并不總是50Ω。在審查設(shè)計(jì)并試圖判斷問題源時(shí)，理解測(cè)試室如何生成這種報(bào)告是很有幫助的。武漢GJB151BEMI診斷傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試

理解EMI報(bào)告在討論排查技術(shù)之前，介紹一下EMI測(cè)試報(bào)告是很有必要的。乍一看，EMI報(bào)告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息，因此事情看起來很簡(jiǎn)單，就是使用報(bào)告中的數(shù)據(jù)確定設(shè)計(jì)中的哪個(gè)元件包含問題源頻率，并特別加以注意，以便通過下一輪測(cè)試。然而，雖然許多測(cè)試條件在報(bào)告中是明確表示的，但一些需要考慮的重要事情可能并不那么明顯。在審查設(shè)計(jì)并試圖判斷問題源時(shí)，理解測(cè)試室如何生成這種報(bào)告是很有幫助的。需要記住的一個(gè)好規(guī)則是，準(zhǔn)峰值檢測(cè)值總是小于或等于峰值檢測(cè)值，永遠(yuǎn)不會(huì)大于峰值檢測(cè)值。因此你可以使用峰值檢測(cè)來開展你的EMI排查和診斷。你不需要達(dá)到與EMI部門或?qū)嶒?yàn)室掃描同等程度的精度，因?yàn)闇y(cè)量都是相對(duì)值。如果你的實(shí)驗(yàn)室報(bào)告中的準(zhǔn)峰值檢測(cè)值表明，設(shè)計(jì)超過了3dB，峰值檢測(cè)值超過了6dB，那么你就知道你需要的修復(fù)工作是將信號(hào)減小3dB或更多。廣州EMI診斷測(cè)試設(shè)備大多數(shù)公司的實(shí)驗(yàn)室并不具備做一定EMI測(cè)量所需的測(cè)試室條件。

改變帶寬法：通過改變頻譜分析儀分辨帶寬，信號(hào)的幅值可能也可能不發(fā)生變化。一個(gè)真正的窄帶或連續(xù)波信號(hào)的幅值將不發(fā)生變化。由持續(xù)時(shí)間為零、幅值無限大的脈沖產(chǎn)生的純寬帶發(fā)射，將產(chǎn)生量值為20log（BW1/BW2）的變化。然而在確定發(fā)射是寬帶還是窄帶的過程中，實(shí)際上允許與理想情況存在偏差。測(cè)試人員在使用這種方法時(shí)不可避免地要運(yùn)用較好的工程經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行判斷。峰值／平均值比較法：同帶寬改變法相似，這種方法是以信號(hào)幅值的變化為基礎(chǔ)的。窄帶信號(hào)的幅值電平在采用峰值或平均值檢波時(shí)基本保持不變，而寬帶信號(hào)在用平均值檢波時(shí)幅值將變小。

以往我們?？吹秸凟MI對(duì)策離不開屏蔽（Shielding），濾波（Filter），接地（Grounding）﹐對(duì)于接地往往一塊電路板多已固定﹐而無法再做處理﹐因?yàn)檫@一部份在電路板布線（Layout）時(shí)就須仔細(xì)考慮﹐若板子已完成則此時(shí)可變動(dòng)的空間就非常小﹐一般方式只能找出噪聲小的接地處用較粗的地線連接﹐減低共模（Commonmode）噪聲。屏蔽所牽涉的材質(zhì)與花費(fèi)亦甚高﹐濾波的方式則是常可見Bead電感等﹐往往用了一大堆亦不甚見效﹐何以如此﹐許多時(shí)候是我們沒有解決其輻射的天線效應(yīng)。一般而言﹐噪聲的能量并不會(huì)因加一些對(duì)策組件便消失﹐也就是能量不減﹐我們所要做的工作是如何避免噪聲輻射到空間（輻射測(cè)試）或由電源傳出（傳導(dǎo)測(cè)試）。MDO還能捕獲或觀察頻譜和時(shí)域軌跡。

測(cè)試室為出EMI報(bào)告而開展的掃描通常是在特殊條件下進(jìn)行的，你的公司實(shí)驗(yàn)室也許無法復(fù)制這些條件。舉例來說，待測(cè)設(shè)備（DUT）可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤上，以便于從多個(gè)角度收集信號(hào)。這種方位角信息是很有用的，因?yàn)樗苤甘締栴}發(fā)生的DUT區(qū)域?；蛘逧MI測(cè)試室可能在校準(zhǔn)過的射頻房?jī)?nèi)開展他們的測(cè)量，并報(bào)告作為強(qiáng)場(chǎng)的測(cè)量結(jié)果。幸運(yùn)的是，你并不需要完全復(fù)制測(cè)試室的條件才能排查EMI測(cè)試故障。與在高度受控的EMI測(cè)試線上執(zhí)行的一定測(cè)量不同，可以使用測(cè)試報(bào)告中的信息、深入理解用于產(chǎn)生報(bào)告的測(cè)量技術(shù)以及對(duì)待測(cè)設(shè)備周邊的相對(duì)觀察以隔離問題源并估計(jì)糾正有效性來開展問題的排查工作。起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽到很好EMI工程師說把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過測(cè)試。廣州汽車電子EMI診斷方法

每種設(shè)備用到不同的測(cè)試方法，并提供不同但互補(bǔ)的診斷技術(shù)。武漢GJB151BEMI診斷傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試

故在EMI的問題上﹐常常看到一個(gè)EMI有問題的產(chǎn)品﹐由于未能找到造成EMI問題的關(guān)鍵﹐花了許多時(shí)間﹐下了許多對(duì)策﹐卻始終無法解決﹐其中亦不乏專業(yè)的EMI工程師。以往談到EMI往往強(qiáng)調(diào)對(duì)策方法﹐甚而視許多對(duì)策秘決或絕招﹐然而沒有正確的診斷﹐而在產(chǎn)品上加了一大堆EMI壓制組件﹐其結(jié)果往往只會(huì)使EMI情況更糟。起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽到很好EMI工程師說把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過測(cè)試。初聽以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽到許多EMI工程師談到類似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對(duì)策觀念。武漢GJB151BEMI診斷傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試