檢查電纜接頭端的接地螺絲是否旋緊及外端接地是否良好。依在前項(xiàng)方式大略找了一下問(wèn)題后﹐我們必須再做一些檢查﹐因?yàn)橥高^(guò)這些檢查﹐也許不須做任何修改﹐便可通過(guò)EMI測(cè)試。例如檢查電纜端的螺絲是否鎖緊﹐有時(shí)將松掉的螺絲上緊﹐可加強(qiáng)電纜線(xiàn)的屏蔽效果。另外可檢查看看機(jī)器外接的Connector的接地是否良好﹐若外殼為金屬而有噴漆﹐則可考慮將Connector處的噴漆刮掉﹐使其接地效果較佳。另外若使用Shielded的電纜線(xiàn)﹐必須檢查接頭端處外覆的金屬綱是否和其鐵蓋密合﹐許多不佳的屏蔽線(xiàn)（RS232）多因線(xiàn)接頭的外覆屏蔽金屬綱未冊(cè)和連接端的地密合﹐以致無(wú)法充份達(dá)到屏蔽的效果。在同一臺(tái)儀器上問(wèn)時(shí)域和頻域?yàn)榭焖俜治鲇泻椛鋭?chuàng)造了條件。重慶 研發(fā)級(jí)EMI診斷標(biāo)準(zhǔn)

通常EMI部門(mén)或外部實(shí)驗(yàn)室一開(kāi)始是使用簡(jiǎn)單的峰值檢測(cè)器執(zhí)行掃描來(lái)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題區(qū)域的。但當(dāng)所發(fā)現(xiàn)的信號(hào)超過(guò)或接近規(guī)定極限時(shí)，他們也執(zhí)行準(zhǔn)峰值測(cè)量。準(zhǔn)峰值是EMI測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)定義的一種方法，用來(lái)檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)的加權(quán)峰值。它根據(jù)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間和重復(fù)率對(duì)信號(hào)進(jìn)行加權(quán)，以便對(duì)從廣播角度看解釋為“干擾”的信號(hào)施加更多的權(quán)重。與不頻發(fā)的脈沖相比，發(fā)生頻率更高的信號(hào)將導(dǎo)致更高的準(zhǔn)峰值測(cè)量結(jié)果。換句話(huà)說(shuō)，問(wèn)題信號(hào)發(fā)生的越頻繁，問(wèn)題信號(hào)的一定幅度就越可能被準(zhǔn)峰值測(cè)量所屏蔽。重慶 研發(fā)級(jí)EMI診斷標(biāo)準(zhǔn)通常公司為了避免這樣的情景出現(xiàn)，會(huì)在設(shè)計(jì)和原型建立階段做一些“預(yù)先的一致性”測(cè)量。

將探頭放在振蕩部件的上方，頻譜分析儀上將顯示大量的振蕩頻率諧波。如果電路經(jīng)過(guò)屏蔽、濾波并且其導(dǎo)線(xiàn)很短，這將不成問(wèn)題。對(duì)于一個(gè)產(chǎn)品，工程師一般關(guān)注以下幾個(gè)方面：導(dǎo)線(xiàn)是否較長(zhǎng)、帶狀線(xiàn)纜是否未經(jīng)屏蔽、是否存在接地回路、視頻電路是否未經(jīng)屏蔽、導(dǎo)線(xiàn)在輸出端是否未經(jīng)濾波、或?qū)Ь€(xiàn)是否靠近箱體接縫。診斷出問(wèn)題區(qū)域后，就可進(jìn)行修補(bǔ)措施：通常是綜合運(yùn)用屏蔽、濾波、接地和搭接。頻譜分析儀另一個(gè)重要診斷用途是確定發(fā)射的特性。例如：一個(gè)信號(hào)根據(jù)它被確定為寬帶或窄帶的不同而選用不同的限值。

industryTemplate電磁干擾的觀念與防制﹐在國(guó)內(nèi)已逐漸受到重視。

種診斷輻射EMI機(jī)理的實(shí)驗(yàn)臺(tái)及簡(jiǎn)易診斷方法,實(shí)驗(yàn)臺(tái)由工作臺(tái),電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭組,頻譜分析儀和計(jì)算機(jī)構(gòu)成;電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭組可以在工作臺(tái)上方三維移動(dòng);電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭組交替連接頻譜分析儀輸入端,頻譜分析儀的輸出端接計(jì)算機(jī).診斷步驟:將被測(cè)電路平面區(qū)域劃分為若干輻射干擾單元;確定輻射電/磁場(chǎng)精測(cè)頻段.輻射干擾單元輻射干擾精測(cè),根據(jù)輻射電/磁場(chǎng)精測(cè)頻段調(diào)整頻譜分析儀的掃描頻段,分別用電/磁場(chǎng)探頭依次測(cè)量各輻射干擾單元的電平值,計(jì)算各輻射干擾單元的輻射電/磁場(chǎng)強(qiáng)度.本發(fā)明實(shí)驗(yàn)臺(tái)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,成本低.本發(fā)明方法能快速簡(jiǎn)便地檢測(cè)出電子系統(tǒng)的輻射EMI噪聲種類(lèi),為輻射EMI噪聲壓制方案提供理論依據(jù)?；旌嫌蚴静ㄆ骺梢詮娜咳_(tái)儀器中產(chǎn)生同步的而且與時(shí)間關(guān)聯(lián)的測(cè)量結(jié)果。西安GJB151BEMI診斷測(cè)試方式

事實(shí)上﹐我們?nèi)绻袳MI當(dāng)做一種疾病﹐當(dāng)然平時(shí)的預(yù)防保養(yǎng)很重要的。重慶 研發(fā)級(jí)EMI診斷標(biāo)準(zhǔn)

機(jī)器外部連接之電纜成為輻射天線(xiàn)：由于機(jī)器本身外部所連接的電纜成為天線(xiàn)效應(yīng)﹐將噪聲輻射到空間﹐此時(shí)噪聲的大小和電纜的長(zhǎng)度有關(guān)﹐因電纜的天線(xiàn)效應(yīng)相對(duì)于噪聲半波長(zhǎng)時(shí)共振情形會(huì)很大﹐也往往是造成EMI無(wú)法通過(guò)測(cè)試。在解決這個(gè)問(wèn)題前必須要做一些判斷﹐否則很容易疏忽而浪費(fèi)時(shí)間。噪聲是由機(jī)器內(nèi)部電路板或接地所產(chǎn)生，此情形為將電纜取下﹐或加一Core則噪聲減低或消失。此時(shí)必須做的一個(gè)步驟是將線(xiàn)靠近機(jī)器（不須直接連接）看噪聲是否會(huì)存在﹐若噪聲并沒(méi)有升高﹐則可確實(shí)判定由機(jī)器內(nèi)部產(chǎn)生﹐若將電纜靠近而干擾噪聲馬上升高。重慶 研發(fā)級(jí)EMI診斷標(biāo)準(zhǔn)