探索LIMS在綜合第三方平臺(tái)建設(shè)
高校實(shí)驗(yàn)室引入LIMS系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)
高校實(shí)驗(yàn)室中LIMS系統(tǒng)的應(yīng)用現(xiàn)狀
LIMS應(yīng)用在生物醫(yī)療領(lǐng)域的重要性
LIMS系統(tǒng)在醫(yī)藥行業(yè)的應(yīng)用
LIMS:實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)的模塊組成
如何選擇一款適合的LIMS?簡(jiǎn)單幾步助你輕松解決
LIMS:解決實(shí)驗(yàn)室管理的痛點(diǎn)
實(shí)驗(yàn)室是否需要采用LIMS軟件?
LIMS系統(tǒng)在化工化學(xué)行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)
正確的EMI診斷方法是,當(dāng)對(duì)一個(gè)可能的干擾源采取了壓制措施后,即使沒(méi)有明顯的改善,也不要將這個(gè)措施去掉,繼續(xù)對(duì)可能的其他干擾源采取措施。當(dāng)采取到某個(gè)措施時(shí),如果干擾幅度降低很多,并能通過(guò)測(cè)試,并不一說(shuō)明這個(gè)干擾源是主要的,而只說(shuō)明這個(gè)干擾擾源相對(duì)于后幾個(gè)干擾源來(lái)說(shuō)是量級(jí)較大的一個(gè),并且可以是之后一個(gè)。在前面的敘述中,假定對(duì)某個(gè)干擾源采取措施后,這個(gè)產(chǎn)品中所有干擾源被100%消除掉,如果這樣,那么當(dāng)之后一個(gè)干擾源去掉后,電磁干擾的減小應(yīng)為無(wú)限大。根據(jù)經(jīng)驗(yàn)需要記住,如果你能觀察遠(yuǎn)場(chǎng)中的信號(hào),那么應(yīng)該能看到近場(chǎng)中的相同信號(hào)。安徽EMI診斷測(cè)試儀
由于EMI測(cè)試上﹐EUT必須轉(zhuǎn)360度而天線由1m到4m變化﹐其目的是要記錄輻射很大的情況。同樣地﹐當(dāng)我們發(fā)現(xiàn)無(wú)法通過(guò)測(cè)試時(shí)﹐首先我們先將天線位置移到噪聲接收很大高度﹐然后將桌子轉(zhuǎn)到差角度﹐此時(shí)我們知道在EUT面對(duì)天線的這一面輻射強(qiáng)﹐故可以初步推測(cè)可能的原因﹐如此處屏蔽不佳或靠近輻射源或有電線電纜經(jīng)過(guò)等。另外須注意的是要關(guān)掉EUT的電源﹐看噪聲是否存在﹐以確定噪聲確實(shí)是由EUT所產(chǎn)生。曾見(jiàn)測(cè)試Monitor一直無(wú)法解決某一點(diǎn)的干擾﹐結(jié)果其噪聲是由PC所造成而非Monitor的問(wèn)題﹐亦有在OPENSITE測(cè)試Monitor發(fā)現(xiàn)某幾點(diǎn)無(wú)法通過(guò)﹐由測(cè)試接收儀器的聲音判斷應(yīng)是Monitor產(chǎn)生﹐結(jié)果關(guān)掉電源發(fā)現(xiàn)噪聲依然存在﹐所以關(guān)掉EUT電源的步驟是必須的﹐而且通常容易被忽略。浙江常用EMI診斷傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試準(zhǔn)峰值與不頻發(fā)的脈沖相比,發(fā)生頻率更高的信號(hào)將導(dǎo)致更高的準(zhǔn)峰值測(cè)量結(jié)果。
噪聲是由機(jī)器內(nèi)部耦合到電纜線上﹐而使電纜成為輻射天線。這一點(diǎn)是許多測(cè)試工程師容易忽略的。此情形如(a)中所提到的﹐只要將一條電纜靠近﹐則可從頻譜上看到噪聲立刻升高﹐此表示噪聲已不單純是由線上所輻射出﹐而是機(jī)器本身的噪聲能量相當(dāng)大﹐一旦有天線靠近則立刻會(huì)耦合至天線而輻射出來(lái)。在實(shí)際測(cè)試中﹐我們發(fā)現(xiàn)許多通訊產(chǎn)品有這類情形發(fā)生﹐此時(shí)若單純用Core或Bead去處理﹐并不能真正的解決問(wèn)題。機(jī)器內(nèi)部的引線﹐連接線成為輻射天線,由于許多產(chǎn)品內(nèi)部常有一些電線彼此連接工作廳﹐當(dāng)這些線靠近噪聲源很容易成為天線﹐將噪聲輻射出去。針對(duì)此點(diǎn)的判斷﹐在200MHz以下之噪聲﹐我們可以在線上加一Core來(lái)判斷噪聲是否減低﹐而對(duì)于200MHz以上之高頻噪聲﹐我們可以將線的位置做前后左右的移動(dòng)﹐看噪聲是否會(huì)增大或減小。
電源濾波器的衰減特性也可由頻譜分析儀和追隨信號(hào)發(fā)生器來(lái)完成。追隨信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生一已知電平的掃描頻率信號(hào)而通過(guò)頻譜分析儀來(lái)追隨觀察。將濾波器放在發(fā)生器輸出和頻譜分析儀輸入之間,就可以得到其衰減特性。發(fā)生器輸出電平與頻譜分析儀接收到的電平之差等于該濾波器所提供的衰減。濾波器測(cè)試裝置的源和負(fù)載阻抗一般為50Ω,以便與濾波器生產(chǎn)廠家提供的典型衰減曲線相比較。應(yīng)當(dāng)注意,在實(shí)際使用過(guò)程當(dāng)中,濾波器的衰減值可能與提供的典型曲線有很大出入,這是因?yàn)閷?shí)際與濾波器相連的網(wǎng)絡(luò)阻抗并不總是50Ω。在EMI,工程師從來(lái)無(wú)法完全掌握可能存在什么信號(hào)。
EMI診斷一般使用通用儀器設(shè)備加上一些專屬附件,根據(jù)測(cè)試需要自行組成測(cè)試系統(tǒng),它簡(jiǎn)單、方便、經(jīng)濟(jì)、實(shí)惠,是對(duì)規(guī)范測(cè)量的一種補(bǔ)充。如果有條件和標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行對(duì)比,則能夠得到定量測(cè)試結(jié)果。因此,EMI診斷成為產(chǎn)品設(shè)計(jì)師在整個(gè)研制過(guò)程中不可缺少的輔助手段,它能及時(shí)向設(shè)計(jì)師反饋EMC設(shè)計(jì)是否合理,采取的電磁干擾壓制措施是否奏效。產(chǎn)品設(shè)計(jì)師能夠根據(jù)EMI診斷結(jié)果找到壓制干擾的途徑。干擾的來(lái)源可能是多方面的,同一臺(tái)設(shè)備可能即是干擾源,又是敏感設(shè)備,干擾的傳播一般會(huì)有多種渠道。聯(lián)機(jī)過(guò)程中也需要借助儀器設(shè)備幫助進(jìn)行各種診斷。EMI診斷能夠滿足設(shè)計(jì)師的上述需求。通常公司為了避免這樣的情景出現(xiàn),會(huì)在設(shè)計(jì)和原型建立階段做一些“預(yù)先的一致性”測(cè)量。重慶 EMI診斷器件選型
在同一臺(tái)儀器上問(wèn)時(shí)域和頻域?yàn)榭焖俜治鲇泻椛鋭?chuàng)造了條件。安徽EMI診斷測(cè)試儀
EMI定義:電磁兼容(EMC)包括電磁干擾(EMI)和電磁抗擾度(EMS)兩部分。簡(jiǎn)而言之,EMI是電子設(shè)備對(duì)外部電磁環(huán)境的干擾,EMS是電子設(shè)備抵抗外部電磁環(huán)境干擾的能力。無(wú)論是EMI還是EMS,都包括輻射和傳導(dǎo)兩部分。EMC認(rèn)證是任何電子設(shè)備必須遵從的,EMI是EMC中的重要部分。EMI測(cè)試包括:1.EMC認(rèn)證機(jī)構(gòu)在EMC實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行認(rèn)證測(cè)試;2.企業(yè)質(zhì)檢部門(mén)利用EMI接收機(jī)或高指標(biāo)頻譜儀進(jìn)行EMI預(yù)認(rèn)證測(cè)試;3.產(chǎn)品研發(fā)、調(diào)測(cè)部門(mén)利用頻譜儀進(jìn)行EMI診斷;4.產(chǎn)品研發(fā)調(diào)測(cè)部門(mén)利用示波器測(cè)試電源紋波、時(shí)鐘抖動(dòng)等特性,因?yàn)樗鼈兪钱a(chǎn)生EMI的因素之一。安徽EMI診斷測(cè)試儀