電磁輻射干擾的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量是指在半電波暗室或者EMC開闊場(chǎng)進(jìn)行的測(cè)量，測(cè)量天線與被測(cè)物的距離一般為3米或3米以上，給出的結(jié)果是一張頻譜圖，即各個(gè)頻率點(diǎn)的電磁輻射干擾強(qiáng)度。標(biāo)準(zhǔn)GB13837-1997（CISPR13）和GB4343-1995（CISPR14）規(guī)定，應(yīng)分別測(cè)試EUT外接連線，如電源線、AV線、耳機(jī)線、話筒線等線纜的干擾功率。傳導(dǎo)干擾是測(cè)試EUT運(yùn)行過(guò)程中端口干擾電壓，包括電源端口、射頻端口、天線端口、電信端口等。如果被測(cè)設(shè)備有一個(gè)或者幾個(gè)頻率點(diǎn)的電磁干擾超過(guò)了標(biāo)準(zhǔn)的限值，被測(cè)設(shè)備就不符合EMC標(biāo)準(zhǔn)要求。在EMI，工程師從來(lái)無(wú)法完全掌握可能存在什么信號(hào)。福建集成電路EMI診斷儀器

常用技術(shù)是觀察特殊寬帶天線頻率范圍，包括所有校正因子在內(nèi)的頻譜圖應(yīng)同時(shí)顯示在頻譜分析儀的顯示屏上，顯示的幅值單位與頻譜分析儀上的單位相一致，通常是dBm。這樣測(cè)試人員可在顯示屏上監(jiān)測(cè)發(fā)射電平，一旦超過(guò)限值，就會(huì)被立刻發(fā)現(xiàn)，它在故障檢修中極其有用。這種特性使得人們?cè)谄帘伪粶y(cè)產(chǎn)品的同時(shí)觀察頻譜分析儀的屏幕，并可立刻獲得反饋信息。在快速進(jìn)行濾波、屏蔽和接地操作時(shí)同樣可做以上嘗試。頻譜分析儀很大保持頻譜圖存儲(chǔ)以及雙重追隨特性也可用于觀察操作前后的EMI電平的變化。鄭州電氣電力EMI診斷儀器雖然許多測(cè)試條件在報(bào)告中是明確表示的，但一些需要考慮的重要事情可能并不那么明顯。

噪聲是由機(jī)器內(nèi)部耦合到電纜線上﹐而使電纜成為輻射天線。這一點(diǎn)是許多測(cè)試工程師容易忽略的。此情形如（a）中所提到的﹐只要將一條電纜靠近﹐則可從頻譜上看到噪聲立刻升高﹐此表示噪聲已不單純是由線上所輻射出﹐而是機(jī)器本身的噪聲能量相當(dāng)大﹐一旦有天線靠近則立刻會(huì)耦合至天線而輻射出來(lái)。在實(shí)際測(cè)試中﹐我們發(fā)現(xiàn)許多通訊產(chǎn)品有這類情形發(fā)生﹐此時(shí)若單純用Core或Bead去處理﹐并不能真正的解決問(wèn)題。機(jī)器內(nèi)部的引線﹐連接線成為輻射天線，由于許多產(chǎn)品內(nèi)部常有一些電線彼此連接工作廳﹐當(dāng)這些線靠近噪聲源很容易成為天線﹐將噪聲輻射出去。針對(duì)此點(diǎn)的判斷﹐在200MHz以下之噪聲﹐我們可以在線上加一Core來(lái)判斷噪聲是否減低﹐而對(duì)于200MHz以上之高頻噪聲﹐我們可以將線的位置做前后左右的移動(dòng)﹐看噪聲是否會(huì)增大或減小。

測(cè)試室為出EMI報(bào)告而開展的掃描通常是在特殊條件下進(jìn)行的，你的公司實(shí)驗(yàn)室也許無(wú)法復(fù)制這些條件。舉例來(lái)說(shuō)，待測(cè)設(shè)備（DUT）可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤上，以便于從多個(gè)角度收集信號(hào)。這種方位角信息是很有用的，因?yàn)樗苤甘締?wèn)題發(fā)生的DUT區(qū)域?；蛘逧MI測(cè)試室可能在校準(zhǔn)過(guò)的射頻房?jī)?nèi)開展他們的測(cè)量，并報(bào)告作為強(qiáng)場(chǎng)的測(cè)量結(jié)果。幸運(yùn)的是，你并不需要完全復(fù)制測(cè)試室的條件才能排查EMI測(cè)試故障。與在高度受控的EMI測(cè)試線上執(zhí)行的一定測(cè)量不同，可以使用測(cè)試報(bào)告中的信息、深入理解用于產(chǎn)生報(bào)告的測(cè)量技術(shù)以及對(duì)待測(cè)設(shè)備周邊的相對(duì)觀察以隔離問(wèn)題源并估計(jì)糾正有效性來(lái)開展問(wèn)題的排查工作。MDO還能捕獲或觀察頻譜和時(shí)域軌跡。

很多公司發(fā)現(xiàn)他們的電子產(chǎn)品在上架銷售前常常栽倒在之后一關(guān)，即符合EMC要求。這使他們認(rèn)識(shí)到在早期設(shè)計(jì)階段重視預(yù)測(cè)試和EMI診斷的重要性，以盡量減小測(cè)試不合格的影響——重新設(shè)計(jì)和設(shè)備召回，以及延遲產(chǎn)品上市。等到開發(fā)期結(jié)束才去了解產(chǎn)品是否能夠通過(guò)一致性測(cè)試是一場(chǎng)豪賭，因?yàn)槊看胃倪M(jìn)涉及的開發(fā)成本會(huì)以指數(shù)規(guī)律攀升。因此，通過(guò)試產(chǎn)原型機(jī)，甚至早在研發(fā)階段，從設(shè)計(jì)調(diào)研上排查EMI日益重要。對(duì)問(wèn)題電路板進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，并采取預(yù)防措施是能夠?yàn)樵O(shè)計(jì)帶來(lái)便利。近場(chǎng)探針實(shí)際上就是設(shè)計(jì)用于拾取磁場(chǎng)（H場(chǎng)）或電場(chǎng)（E場(chǎng)）變化的天線。福建芯片EMI診斷頻譜儀

全世界幾乎所有有關(guān)部門都在嘗試控制他們國(guó)家生產(chǎn)的電子產(chǎn)品產(chǎn)生的有害電磁干擾（EMI）。福建集成電路EMI診斷儀器

如果設(shè)備沒(méi)有通過(guò)EMC測(cè)試，我們從測(cè)量結(jié)果中，只能知道哪些頻率點(diǎn)“超標(biāo)”了，而這些頻率的電磁干擾是從哪里出來(lái)的，往往是工程師門不容易發(fā)現(xiàn)、難解決的問(wèn)題。EMI快速診斷方法就是針對(duì)EUT的原理，先推斷引起EMI的原因和內(nèi)部干擾源可能是什么，再根據(jù)EMI產(chǎn)生的途徑和機(jī)理，透過(guò)測(cè)試圖，分析超差原因；必要時(shí),輔以高頻示波器或頻譜儀，從頻域到時(shí)域，尋找產(chǎn)生EMI問(wèn)題的對(duì)應(yīng)電路和器件；從而制定EMI對(duì)策。對(duì)策-顯示器使用帶磁環(huán)類型的信號(hào)電纜和電源電纜,電源輸入端串接差模線圈，電源地線剪短就近接地。福建集成電路EMI診斷儀器