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高校實(shí)驗(yàn)室引入LIMS系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)
高校實(shí)驗(yàn)室中LIMS系統(tǒng)的應(yīng)用現(xiàn)狀
LIMS應(yīng)用在生物醫(yī)療領(lǐng)域的重要性
LIMS系統(tǒng)在醫(yī)藥行業(yè)的應(yīng)用
LIMS:實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)的模塊組成
如何選擇一款適合的LIMS?簡(jiǎn)單幾步助你輕松解決
LIMS:解決實(shí)驗(yàn)室管理的痛點(diǎn)
實(shí)驗(yàn)室是否需要采用LIMS軟件?
LIMS系統(tǒng)在化工化學(xué)行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)
EMI診斷在電子設(shè)備設(shè)計(jì)、調(diào)試階段,隨時(shí)進(jìn)行EMI診斷是保證電子設(shè)備通過(guò)EMC認(rèn)證行之有效且費(fèi)用低的手段。如果終產(chǎn)品EMC認(rèn)證不合格,設(shè)計(jì)者需要重新進(jìn)行EMI診斷,找出EMI問(wèn)題的根源,但此時(shí)可用的整改手段已經(jīng)不多,進(jìn)行重新設(shè)計(jì),費(fèi)用將倍增。由此可見(jiàn)EMI診斷是日常工作中經(jīng)常進(jìn)行的,而EMI預(yù)認(rèn)證以及認(rèn)證測(cè)試只有在電子產(chǎn)品定型階段才進(jìn)行。傳導(dǎo)類(lèi)EMI可以用示波器追蹤,同時(shí)需要用頻譜儀測(cè)試,需要兩種儀器結(jié)合運(yùn)用。結(jié)合示波器中現(xiàn)有的在EMI排查方面的分析工具,將幫助您快速發(fā)現(xiàn)您設(shè)計(jì)中的潛在問(wèn)題。示波器互補(bǔ)的方法為EMI排查診斷打開(kāi)了全新的天地,提供前所未有的EMI排查能力。安徽電磁EMI診斷測(cè)試儀
電磁干擾的觀念與防制﹐在國(guó)內(nèi)已逐漸受到重視。雖然目前國(guó)內(nèi)并無(wú)嚴(yán)格管制電子產(chǎn)品的電磁干擾(EMI)﹐但由于歐美各國(guó)多已實(shí)施電磁干擾的要求﹐加上數(shù)字產(chǎn)品的普遍使用﹐對(duì)電磁干擾的要求已是刻不容緩的事情。筆者由于啊作的關(guān)系﹐經(jīng)常遇到許多產(chǎn)品已完成成品設(shè)計(jì)﹐因無(wú)法通過(guò)EMI測(cè)試﹐而使設(shè)計(jì)工程師花費(fèi)許多時(shí)間和精力投入EMI的修改﹐由于屬于事后的補(bǔ)救﹐往往投入許多時(shí)間與金錢(qián)﹐甚而影響了產(chǎn)品上市的時(shí)機(jī)。產(chǎn)品開(kāi)發(fā)期間要求設(shè)計(jì)師到標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室去解決干擾問(wèn)題是不現(xiàn)實(shí)的。福建消費(fèi)電子EMI診斷由于屬于事后的補(bǔ)救﹐往往投入許多時(shí)間與金錢(qián)﹐甚而影響了產(chǎn)品上市的時(shí)機(jī)。
噪聲是由機(jī)器內(nèi)部耦合到電纜線(xiàn)上﹐而使電纜成為輻射天線(xiàn)。這一點(diǎn)是許多測(cè)試工程師容易忽略的。此情形如(a)中所提到的﹐只要將一條電纜靠近﹐則可從頻譜上看到噪聲立刻升高﹐此表示噪聲已不單純是由線(xiàn)上所輻射出﹐而是機(jī)器本身的噪聲能量相當(dāng)大﹐一旦有天線(xiàn)靠近則立刻會(huì)耦合至天線(xiàn)而輻射出來(lái)。在實(shí)際測(cè)試中﹐我們發(fā)現(xiàn)許多通訊產(chǎn)品有這類(lèi)情形發(fā)生﹐此時(shí)若單純用Core或Bead去處理﹐并不能真正的解決問(wèn)題。機(jī)器內(nèi)部的引線(xiàn)﹐連接線(xiàn)成為輻射天線(xiàn),由于許多產(chǎn)品內(nèi)部常有一些電線(xiàn)彼此連接工作廳﹐當(dāng)這些線(xiàn)靠近噪聲源很容易成為天線(xiàn)﹐將噪聲輻射出去。針對(duì)此點(diǎn)的判斷﹐在200MHz以下之噪聲﹐我們可以在線(xiàn)上加一Core來(lái)判斷噪聲是否減低﹐而對(duì)于200MHz以上之高頻噪聲﹐我們可以將線(xiàn)的位置做前后左右的移動(dòng)﹐看噪聲是否會(huì)增大或減小。
干擾正確的診斷:要解決產(chǎn)品上的EMI問(wèn)題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測(cè)試在﹐所以如何正確的診斷EMI問(wèn)題﹐對(duì)于設(shè)計(jì)工程師及EMI工程師是非常重要的。頻譜分析儀是進(jìn)行電磁干擾測(cè)試、診斷和故障檢測(cè)中應(yīng)用廣的一種測(cè)試儀器。對(duì)于一個(gè)電磁兼容工程師(EMC)來(lái)講,頻譜分析儀除了測(cè)試商用和電磁發(fā)射的重要用途外,還可對(duì)對(duì)以下內(nèi)容進(jìn)行評(píng)估:1、材料的屏蔽效能,2、設(shè)備機(jī)箱的屏蔽效能,3、較大的試驗(yàn)室或測(cè)試室的屏蔽效能,4、電源線(xiàn)濾波器的衰減特性;此外,頻譜分析儀可從事場(chǎng)地勘測(cè)。在EMI,工程師從來(lái)無(wú)法完全掌握可能存在什么信號(hào)。
EMC測(cè)試伴隨著產(chǎn)品研制的全過(guò)程,眾所周知,一個(gè)產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達(dá)標(biāo)靠什么證明呢?無(wú)疑是試驗(yàn),試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能好壞的單獨(dú)手段。然而,EMC試驗(yàn)不單單承擔(dān)對(duì)產(chǎn)品性能終檢驗(yàn)的任務(wù),在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段也需要有輔助試驗(yàn)手段檢驗(yàn)每一個(gè)設(shè)計(jì)思想及每一項(xiàng)設(shè)計(jì)措施是否正確。特別是復(fù)雜的電子系統(tǒng),在方案論證階段需要制定EMC試驗(yàn)規(guī)范,在單機(jī)設(shè)備初樣、正樣研制階段需要對(duì)每項(xiàng)EMC指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量,組成系統(tǒng)之后需要進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)的EMC測(cè)試。系統(tǒng)級(jí)EMC測(cè)試的目的一方面檢驗(yàn)系統(tǒng)自身兼容性,另一方面檢驗(yàn)該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。在審查設(shè)計(jì)并試圖判斷問(wèn)題源時(shí),理解測(cè)試室如何生成這種報(bào)告是很有幫助的。天津家電燈具EMI診斷器件選型
通常公司為了避免這樣的情景出現(xiàn),會(huì)在設(shè)計(jì)和原型建立階段做一些“預(yù)先的一致性”測(cè)量。安徽電磁EMI診斷測(cè)試儀
設(shè)計(jì)工程師經(jīng)常發(fā)現(xiàn)新產(chǎn)品設(shè)計(jì)需要經(jīng)過(guò)多次修改才能達(dá)到限值。他們既不擁有EMI診斷訣竅,EMI診斷也不是他們?nèi)粘X?zé)任的一部分。通常,只當(dāng)設(shè)計(jì)的電路板幾乎完工時(shí)才遞交給EMC部門(mén)或外部實(shí)驗(yàn)室做進(jìn)一步測(cè)試。然而,相比早期設(shè)計(jì)階段(這時(shí)某些設(shè)計(jì)考慮或許能夠妥善處理)修改,在這個(gè)階段做出改動(dòng)極具挑戰(zhàn)性。符合EMC標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)果在設(shè)計(jì)上是可控的,能夠做出規(guī)劃,同時(shí)也是設(shè)計(jì)師的責(zé)任。解決EMI并非使用什么巫術(shù),也無(wú)需時(shí)域工程師躲避。使用您熟悉的儀器---示波器,您能夠更好地理解EMI問(wèn)題,以及了解所用解決方案的效果。安徽電磁EMI診斷測(cè)試儀