近場(chǎng)探頭在受測(cè)設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微鏡的協(xié)助下完成，掃描支持防撞功能，在探頭沿垂直方向運(yùn)動(dòng)觸碰到受試設(shè)備時(shí)停止運(yùn)動(dòng)，在電腦上通過(guò)ChipScan-Scanner軟件可以控制FLS106PCB型掃描儀。這款軟件同時(shí)可以從頻譜分析儀中讀取測(cè)量數(shù)據(jù)（2D或3D)圖像，以及輸出測(cè)量數(shù)據(jù)（CSV文件）。在任何新PCB的開(kāi)發(fā)過(guò)程中，設(shè)計(jì)工程師都必須找出設(shè)計(jì)之外的輻射體或射頻泄漏，并對(duì)其進(jìn)行描述和處理以通過(guò)一致性測(cè)試?？赡艿妮椛潴w包括高速、大功率器件以及具有高密度或高復(fù)雜度的器件。掃描系統(tǒng)以疊加在Gerber文件上的形式顯示空間輻射特性，因此測(cè)試人員可以準(zhǔn)確地找出所有輻射問(wèn)題的來(lái)源?？焖俅判詷O近場(chǎng)測(cè)量?jī)x器可以捕獲和顯示頻譜和實(shí)時(shí)空間掃描結(jié)果的可視圖像。利用球背向投影法在直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式情況下的目標(biāo)函數(shù)解析公式已經(jīng)給出。長(zhǎng)沙干擾源無(wú)線性能儀器

可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)—IS32整體介紹：帶無(wú)線射頻功能的電子產(chǎn)品，除了要解決常規(guī)EMC干擾問(wèn)題外， 射頻電路和天線與產(chǎn)品中各電路走線、功能組件、關(guān)鍵IC和元器件等 部件之間，也會(huì)發(fā)生電磁干擾問(wèn)題。主要表現(xiàn)為射頻相關(guān)信號(hào)干擾其 他部件，導(dǎo)致性能功能的下降或喪失。另外，由于產(chǎn)品布局布線、器 件選型不佳等原因，產(chǎn)品內(nèi)一些器件在工作時(shí)產(chǎn)生的無(wú)意發(fā)射電磁噪 聲也會(huì)干擾到射頻電路和天線，導(dǎo)致射頻靈敏度指標(biāo)的下降，從而影 響產(chǎn)品的無(wú)線性能。以上兩類問(wèn)題的解決，必須要能夠基于實(shí)際場(chǎng)景 評(píng)估干擾風(fēng)險(xiǎn)，準(zhǔn)確分析關(guān)聯(lián)器件和部件的輻射特性及射頻抗擾度特 性。可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)可用于對(duì)芯片、元器件、模組 件、FPC、PCBA等部件和整機(jī)進(jìn)行近場(chǎng)輻射抗擾度故障模擬、自動(dòng)化 測(cè)量、可視化呈現(xiàn)、是解決復(fù)雜電磁輻射抗擾度問(wèn)題的有效工具。廣州靈敏度無(wú)線性能廠家掃描系統(tǒng)以疊加在Gerber文件上的形式顯示空間輻射特性，因此測(cè)試人員可以準(zhǔn)確地找出所有輻射問(wèn)題的來(lái)源。

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13產(chǎn)品特點(diǎn)：【便捷化】系統(tǒng)相較于標(biāo)準(zhǔn)輻射雜散測(cè)試實(shí)驗(yàn)室及預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，體積更小，搬運(yùn)更方便;【測(cè)試快】?jī)?nèi)置16個(gè)接收天線，省去轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)間，600MHz-13GHz測(cè)試時(shí)間只需幾秒鐘，更適用于產(chǎn)線快速抽檢及研發(fā)階段的摸底測(cè)試；【系統(tǒng)搭建簡(jiǎn)單】配套的濾波器組，內(nèi)置放大器及切換控制單元小型化封裝于一體，測(cè)試系統(tǒng)搭建容易；【多方位天線布置】可準(zhǔn)確識(shí)別雜散輻射源的方向和位置，并且實(shí)時(shí)呈現(xiàn)結(jié)果，方便進(jìn)行樣品的“敲擊”測(cè)試，電連接性能測(cè)試及問(wèn)題分析定位。

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)：測(cè)試環(huán)境：小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下模擬：典型場(chǎng)景信號(hào)、標(biāo)準(zhǔn)場(chǎng)景信號(hào)、復(fù)雜場(chǎng)景信號(hào)覆蓋測(cè)試項(xiàng)包括：傳導(dǎo)吞吐量測(cè)試，輻射吞吐量測(cè)試，方向性吞吐量測(cè)試，同頻和鄰頻干擾測(cè)試高精細(xì)電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制監(jiān)控方式：吞吐量、丟包率、時(shí)延、速率、音頻質(zhì)量、靈敏度等；應(yīng)用領(lǐng)用：■機(jī)場(chǎng)、地鐵、高鐵、商場(chǎng)、集市、居民區(qū)、停車(chē)場(chǎng)、工業(yè)區(qū)等多個(gè)復(fù)雜電磁場(chǎng)景模擬；■研發(fā)階段電磁抗干擾性能評(píng)估；■產(chǎn)品上市階段電磁抗干擾性能評(píng)估；■吞吐量、丟包率、時(shí)延、速率、音頻質(zhì)量等性能評(píng)估。EMI輻射近場(chǎng)探頭是用于配合頻譜分析儀查找干擾源的設(shè)備。

可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)—IS32產(chǎn)品特點(diǎn)：【高復(fù)現(xiàn)】模擬實(shí)際失效場(chǎng)景，采用射頻干擾耦合注入方式，極大的提高實(shí)際問(wèn)題的復(fù)現(xiàn)幾率，方便問(wèn)題分析；【高精度】視覺(jué)定位和機(jī)械手臂聯(lián)動(dòng)運(yùn)行，高精度的定位敏感源位置，方便分析問(wèn)題源頭和失效機(jī)理；【可量化】準(zhǔn)確模擬干擾距離、干擾功率、干擾頻率等參數(shù)，并建立數(shù)據(jù)與實(shí)際問(wèn)題現(xiàn)象的對(duì)應(yīng)關(guān)系，將問(wèn)題量化；【可視化】敏感源的分布可視化呈現(xiàn)，測(cè)量結(jié)果與實(shí)際產(chǎn)品直接對(duì)應(yīng)；【多功能】可用于板級(jí)輻射抗擾度、射頻干擾、射頻抗擾度等多種復(fù)雜抗擾度問(wèn)題的測(cè)量與分析。應(yīng)用領(lǐng)域：■芯片、器件、模組件輻射抗擾度（RS）測(cè)量與診斷分析；■射頻抗干擾（Desense）測(cè)量與診斷分析；■板級(jí)輻射抗擾度（RS）測(cè)量與診斷分析；■射頻干擾（RFI）測(cè)量與診斷分析。人眼可接收到的電磁輻射，波長(zhǎng)大約在380至780納米之間，稱為可見(jiàn)光。重慶 電磁波無(wú)線性能檢測(cè)

只要是本身溫度大于一定零度的物體，都可以發(fā)射電磁輻射，而世界上并不存在溫度等于或低于一定零度的物體。長(zhǎng)沙干擾源無(wú)線性能儀器

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)：■自帶無(wú)線多制式測(cè)量濾波器開(kāi)關(guān)陣列單元，自動(dòng)控制，頻率覆蓋600MHz-13GHz;■覆蓋無(wú)線產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)階段RSE快速預(yù)驗(yàn)證測(cè)試需求；■多測(cè)量天線布局設(shè)計(jì)，一次性高效方方面面的比較大RSE干擾掃描，3分鐘即可完成一次全頻段測(cè)量；■內(nèi)置20cm高度高性能吸波材料，有效減少空間駐波反射，保障測(cè)量結(jié)果重復(fù)性；■帶波導(dǎo)孔設(shè)計(jì)，便于產(chǎn)品測(cè)試時(shí)內(nèi)外連通實(shí)現(xiàn)典型通訊組網(wǎng)。了解更多，歡迎來(lái)電咨詢，我們真誠(chéng)期待與您溝通。長(zhǎng)沙干擾源無(wú)線性能儀器

揚(yáng)芯科技（深圳）有限公司致力于儀器儀表，是一家生產(chǎn)型的公司。公司業(yè)務(wù)涵蓋近場(chǎng)輻射問(wèn)題解決方案，?輻射抗擾度問(wèn)題解決方案，輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，射頻干擾問(wèn)題解決方案等，價(jià)格合理，品質(zhì)有保證。公司注重以質(zhì)量為中心，以服務(wù)為理念，秉持誠(chéng)信為本的理念，打造儀器儀表良好品牌。在社會(huì)各界的鼎力支持下，持續(xù)創(chuàng)新，不斷鑄造***服務(wù)體驗(yàn)，為客戶成功提供堅(jiān)實(shí)有力的支持。