輻射近場測量需要解決的問題：（1）考慮探頭與被測天線多次散射耦合的理論公式：在前述的理論中，所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的，這些公式對常規(guī)天線的測量有一定的精度，但對低副瓣或很低副瓣天線測量就必需考慮這些因素，因此，需要建立嚴格的耦合方程。（2）近場測量對天線口徑場診斷的精度和速度：近場測量對常規(guī)陣列天線口徑場的診斷有較好的診斷精度，但對于很低副瓣天線陣列而言，診斷精度和速度還需要進一步研究。（3）輻射近場掃頻測量的研究：就一般情況而言，天線都在一個頻帶內工作，因此，各項電指標都是頻率的函數，為了快速獲得各個頻率點的電指標，就需要進行掃頻測量。掃頻測量的理論與點頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時，收發(fā)測量系統(tǒng)作掃頻測量。群脈沖（EFT）近場電磁掃描診斷分析，歡迎來電咨詢。廣州日本MIC輻射雜散實驗室
輻射抗擾度（RS）近場電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場掃描診斷分析系統(tǒng)使用電磁場近場耦合探頭套裝，支持0.01mm分辨率步進電磁掃描，采用近場電磁耦合的方式，將10kHz-6GHz的輻射抗擾度(RS)電壓耦合到電路中，從而找到敏感源頭位置，解決輻射抗擾度問題，提高產品的輻射抗擾度能力。普遍用于醫(yī)療、感應器、無線終端模塊、儀器儀表、汽車電子部件等行業(yè)的輻射抗擾度問題解決，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、輻射抗擾度敏感源頭定位、器件選型輻射抗擾度性能評估、更新方案設計的輻射抗擾度性能評估、電磁仿真驗證等方面。天線無線性能掃描儀以焦斑為中心，落在其前后半個瑞利長度范圍外的光場為近場，否則稱為遠場。
多功能吞吐量性能自動化測試系統(tǒng)— TS6整體介紹：當藍牙、WiFi無線產品存在設計缺陷時，很容易導致其在使用過程中受到外部環(huán)境的電磁干擾。電磁干擾會影響數據傳輸的穩(wěn)定性，從而影響用戶的體驗感。在電磁干擾環(huán)境現場進行測試受多方條件制約變得非常困難，通過將現場環(huán)境引入實驗室環(huán)境進行吞吐量性能測試仿真復現問題，對提供性能改進對策具有重要意義。系統(tǒng)環(huán)境采用小型化或標準電波暗室，通過自動化測試軟件集成矢量源、綜測儀、頻譜采存放設備、頻譜儀、功放、天線、轉臺、場強儀等設備，實現對無線產品的電磁干擾發(fā)射強度控制和吞吐量等性能指標的監(jiān)控，支持客戶自定義監(jiān)控需求。
可視化EFT抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-EFT整體介紹：電子產品在做脈沖群抗擾度測試時，通過電源端口、I/O端口直接注入或者耦合注入的EMS干擾，會引起產品的死機、重啟、性能功能 下降等異常，甚至會導致直接硬件損壞。在解決此類問題時，比較大的困難在于注入到產品內部的干擾不僅會通過走線串擾到PCB板內部各 敏感電路導致故障，而且會通過電源平面、地平面等傳導到電路的各部分，所以很難定位到真實受擾的電路或者器件。可視化EFT診斷分析系統(tǒng)，通過小范圍磁場耦合的方式，精確分析敏感電路，量化敏感等級，可視化的呈現敏感區(qū)域，可用于產品研發(fā)中的EFT問題診斷分析， 快速解決產品問題，提高研發(fā)效率和產品質量。電磁干擾(ElectromagneticInterference簡稱EMI)又分為傳導干擾和輻射干擾兩種。
EMI分析整改方法：在晶片電源接腳、I/O接口、重要訊號介面等位置增加旁路電容，有助于濾除積體電路的開關雜訊。晶片電源接腳增加旁路電容(0.1μF)處理，電容要靠近接腳擺放。訊號線下方的地要完整，要有完整的參考面。訊號電流經過一個低阻抗的路徑返還其驅動源，能夠有效減小輻射，而且由于地層的遮罩作用，使得電路對外輻射的靈敏度也會降低。如果兩個電路的參考電平不一致，就會產生功能問題，如雜訊容限和邏輯開關門限電平紊亂，這個接地雜訊電壓就會導致地環(huán)路干擾的產生。任何信號的傳輸都存在一個閉環(huán)的回路，當電流從驅動端流入接收端的時候，必然會有一個回流電流通過與之相鄰的導體從接收端回流至驅動端，構成一個閉合的環(huán)路，而環(huán)路的大小卻和EMI的產生有著很大的關系，我們都知道，每一個環(huán)路都可以等效為一個天線，環(huán)路數量或者面積越大，引起的EMI也越強。我們知道，交流信號會自動選取阻抗小的路徑返回驅動端，但實際情況中，信號不可能始終保持的理想路徑，特別是在高密度布線的PCB板上，過孔，縫隙等都可能降低參考平面理想的特性，而是表現為更復雜的回流形式。一種電磁場近場掃描裝置，包括探頭、空間移動平臺、顯微攝像裝置、信號分析裝置和計算機；武漢中國SRRC輻射雜散價格
車載導航產品的輻射干擾包含寬帶干擾和窄帶干擾。廣州日本MIC輻射雜散實驗室
射頻抗干擾(Desense)近場電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場掃描診斷分析系統(tǒng)使用電場近場探頭(H-Probe)、高低頻磁場近場探頭(H-Probe)套裝，支持0.01mm分辨率步進電磁掃描，能快速有效的預防、解決接收感度惡化（DegradationofSensitivity）問題，使得產品達到優(yōu)化設計，滿足研發(fā)級正向設計、整機、板級、芯片的射頻抗干擾Desense問題自動診斷分析，普遍用于2/3/4/5G手機、藍牙、WiFi、物聯網無線終端模塊等行業(yè)，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、射頻抗干擾源頭定位、器件選型射頻抗干擾評估、更新方案設計的射頻抗干擾性能評估、天線仿真驗證等方面。廣州日本MIC輻射雜散實驗室
揚芯科技（深圳）有限公司是一家揚芯科技(深圳)有限公司成立于2018年11月01日，注冊地位于深圳市龍華區(qū)大浪街道新石社區(qū)華聯工業(yè)區(qū)28號1202，法定代表人為楊紅波。經營范圍包括一般經營項目是：通訊設備、汽車零部件、消費電子產品的集成電路、元器件設計與開發(fā)；自動化檢測系統(tǒng)集成及解決方案的開發(fā)、銷售及技術咨詢；國內貿易、貨物及技術進出口。的公司，致力于發(fā)展為創(chuàng)新務實、誠實可信的企業(yè)。揚芯科技深耕行業(yè)多年，始終以客戶的需求為向導，為客戶提供***的近場輻射問題解決方案，?輻射抗擾度問題解決方案，輻射雜散預測試系統(tǒng)，射頻干擾問題解決方案。揚芯科技致力于把技術上的創(chuàng)新展現成對用戶產品上的貼心，為用戶帶來良好體驗。揚芯科技創(chuàng)始人楊紅波，始終關注客戶，創(chuàng)新科技，竭誠為客戶提供良好的服務。