多功能吞吐量性能自動化測試系統(tǒng)— TS6關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)：測試環(huán)境：小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下模擬：典型場景信號、標(biāo)準(zhǔn)場景信號、復(fù)雜場景信號覆蓋測試項(xiàng)包括：傳導(dǎo)吞吐量測試，輻射吞吐量測試，方向性吞吐量測試，同頻和鄰頻干擾測試高精細(xì)電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制監(jiān)控方式：吞吐量、丟包率、時延、速率、音頻質(zhì)量、靈敏度等；應(yīng)用領(lǐng)用：■機(jī)場、地鐵、高鐵、商場、集市、居民區(qū)、停車場、工業(yè)區(qū)等多個復(fù)雜電磁場景模擬；■研發(fā)階段電磁抗干擾性能評估；■產(chǎn)品上市階段電磁抗干擾性能評估；■吞吐量、丟包率、時延、速率、音頻質(zhì)量等性能評估。近場存在于距電磁輻射源（例如發(fā)射天線）一個波長范圍內(nèi)的電磁場，一個聲源（如揚(yáng)聲器）附近的聲輻射場。深圳產(chǎn)線輻射雜散實(shí)驗(yàn)室

可視化ESD抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-ESD整體介紹：電子產(chǎn)品在做ESD抗擾度測試時，一般會出現(xiàn)硬損壞和軟失效兩類故障現(xiàn)象，對于硬損壞類的故障，需要找到損壞位置、分析干擾傳遞的路徑，并在合適的位置增加或提升防護(hù)能力。對于軟失效類的故 障，比較大的難點(diǎn)在干擾范圍大，干擾路徑復(fù)雜，無法準(zhǔn)確的定位敏感源?？梢暬疎SD抗擾度診斷分析系統(tǒng)，按照IEC 61000-4-2 ESD抗擾度 標(biāo)準(zhǔn)，通過自動控制系統(tǒng)的驅(qū)動，用耦合探頭對待測物精細(xì)的施加干擾，測試過程中，外面監(jiān)測設(shè)備示波器、綜測儀等可實(shí)時的測量產(chǎn)品受擾后的性能異常，通過測試軟件可實(shí)時記錄靜電干擾的量級和產(chǎn)品的性能指標(biāo)，當(dāng)性能下降到預(yù)設(shè)的失效門限，對應(yīng)的干擾等級和位置就是PCB板上較為敏感的部位。方便的進(jìn)行受擾源頭、抗擾度分析，快速的給出產(chǎn)品級解決方案。成都?xì)W盟CE輻射雜散價格在高速PCB及系統(tǒng)設(shè)計(jì)中，高頻信號線、集成電路的引腳、各類接插件等都可能成為具有天線特性的輻射干擾源。

近場掃描儀的特點(diǎn)：1.不需要消聲室：可以使用場分離技術(shù)將輻射聲從房間反射聲中分離出來。2.比消聲室測量精度更高100Hz以下，不需要房間校正曲線。3.快速測量：標(biāo)準(zhǔn)3D聲學(xué)測量，可在不到20分鐘內(nèi)完成典型兩分頻系統(tǒng)的聲功率測量。4.高信噪比：近場中聲壓級高，對環(huán)境噪聲的要求不需要太嚴(yán)格。全部的輻射數(shù)據(jù)集從近場測量獲得的輻射數(shù)據(jù)集中可獲取3D空間中任何點(diǎn)的SPL。近場掃描儀使用移動的麥克風(fēng)來掃描整體聲源（如揚(yáng)聲器系統(tǒng)或安裝在障板上的換能器）近場中的聲壓。被測設(shè)備（<500kg）在掃描過程中不會移動，這樣，非消聲環(huán)境中的反射就可以保持一致并通過新穎的分析軟件進(jìn)行監(jiān)測，該軟件使用聲學(xué)全息和場分離技術(shù)來提取直達(dá)聲并減少室內(nèi)反射。

OTA快速測量系統(tǒng)——測試系統(tǒng)采用OTA技術(shù)及算法，結(jié)合信令和非信令模式以極快的時間完成關(guān)鍵指標(biāo)性能測試：1.樣品多模一站式測量2.支持多個樣品并行測量3.支持WLAN、2/3/4/5G產(chǎn)品4.準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性高5.維護(hù)簡單、轉(zhuǎn)產(chǎn)方便；射頻（RF）指標(biāo)快速測量系統(tǒng)——藍(lán)牙/WIFI模塊等性能指標(biāo)評估時，可利用治具、屏蔽箱、儀表等組成的射頻指標(biāo)快速測量系統(tǒng)，具有如下特點(diǎn)：1.一鍵化腳本自動測試2.支持功率/頻偏/調(diào)整/靈敏度等測試用例，可定制需求3.支持多家儀表廠商4.測試結(jié)果自動保存、自動判定，數(shù)據(jù)自動匯總統(tǒng)計(jì)。時脈訊號、高頻訊號等，在PCB設(shè)計(jì)時進(jìn)行包地處理，并打些地孔，可有效降低EMI。

從90年代末至今，近場微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場的復(fù)雜性，致使近場微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場成像。近場微波成像中，著眼于潛在的應(yīng)用，目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù)，也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標(biāo)的相對運(yùn)動方式來看，近場微波成像有兩種模式：即直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺模式，研究方法可分為電磁逆散射法和球背向投影法（SphericalBackProjection，簡寫為SBP）。其中電磁逆散射法散射機(jī)理清晰，但數(shù)學(xué)公式復(fù)雜且有很大的局限性，因而，實(shí)際中使用較少；而球背向投影法在實(shí)際中使用較多。利用球背向投影法在直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺模式情況下的目標(biāo)函數(shù)解析公式已經(jīng)給出。信號接收端比較這兩個電壓的差值來判斷發(fā)送端發(fā)送的邏輯狀態(tài)。長沙歐盟CE輻射雜散價格

PCB近場掃描儀FLS106PCBset的目的是，方便近場探頭檢測電子元件組的磁場或電場。深圳產(chǎn)線輻射雜散實(shí)驗(yàn)室

可視化EFT抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-EFT整體介紹：電子產(chǎn)品在做脈沖群抗擾度測試時，通過電源端口、I/O端口直接注入或者耦合注入的EMS干擾，會引起產(chǎn)品的死機(jī)、重啟、性能功能 下降等異常，甚至?xí)?dǎo)致直接硬件損壞。在解決此類問題時，比較大的困難在于注入到產(chǎn)品內(nèi)部的干擾不僅會通過走線串?dāng)_到PCB板內(nèi)部各 敏感電路導(dǎo)致故障，而且會通過電源平面、地平面等傳導(dǎo)到電路的各部分，所以很難定位到真實(shí)受擾的電路或者器件。可視化EFT診斷分析系統(tǒng)，通過小范圍磁場耦合的方式，精確分析敏感電路，量化敏感等級，可視化的呈現(xiàn)敏感區(qū)域，可用于產(chǎn)品研發(fā)中的EFT問題診斷分析， 快速解決產(chǎn)品問題，提高研發(fā)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。深圳產(chǎn)線輻射雜散實(shí)驗(yàn)室

揚(yáng)芯科技（深圳）有限公司主要經(jīng)營范圍是儀器儀表，擁有一支專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)和良好的市場口碑。公司自成立以來，以質(zhì)量為發(fā)展，讓匠心彌散在每個細(xì)節(jié)，公司旗下近場輻射問題解決方案，?輻射抗擾度問題解決方案，輻射雜散預(yù)測試系統(tǒng)，射頻干擾問題解決方案深受客戶的喜愛。公司將不斷增強(qiáng)企業(yè)重點(diǎn)競爭力，努力學(xué)習(xí)行業(yè)知識，遵守行業(yè)規(guī)范，植根于儀器儀表行業(yè)的發(fā)展。在社會各界的鼎力支持下，持續(xù)創(chuàng)新，不斷鑄造***服務(wù)體驗(yàn)，為客戶成功提供堅(jiān)實(shí)有力的支持。