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來源: 發(fā)布時間:2022-03-25

可視化EFT抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-EFT整體介紹:電子產品在做脈沖群抗擾度測試時,通過電源端口、I/O端口直接注入或者耦合注入的EMS干擾,會引起產品的死機、重啟、性能功能 下降等異常,甚至會導致直接硬件損壞。在解決此類問題時,比較大的困難在于注入到產品內部的干擾不僅會通過走線串擾到PCB板內部各 敏感電路導致故障,而且會通過電源平面、地平面等傳導到電路的各部分,所以很難定位到真實受擾的電路或者器件??梢暬疎FT診斷分析系統(tǒng),通過小范圍磁場耦合的方式,精確分析敏感電路,量化敏感等級,可視化的呈現(xiàn)敏感區(qū)域,可用于產品研發(fā)中的EFT問題診斷分析, 快速解決產品問題,提高研發(fā)效率和產品質量。處理后端輸出整流管的吸收電路和初級大電路并聯(lián)電容的大小。手機無線性能分析儀價格

近場掃描測試能計入環(huán)境影響嗎?近場測試是測的近場的表面電流,或者說很近的電磁場,然后再計算成遠場的方向圖,這顯然是無法考慮附近金屬體的影響的,其實近場測試只是對方向性高的陣列天線比較適用,到了邊上的話計算出的場也是不準的,需要校準.我覺得如果你把金屬考慮進去,一起測試比如一塊大的ground,那也會是比較準確的。通過上述實施方式,其具有X、Y、Z及極化軸四軸運動能力,可以有效捕捉水平方向傳播的波譜信息,能夠容易地調整掃描架與待測設備之間的距離,自動化程度高,測試效率高。鄭州電磁場無線性能系統(tǒng)價格傳導干擾是指通過導電介質把一個電網絡上的信號耦合(干擾)到另一個電網絡。

EMI設計要點很多初學者對于EMI設計都摸不著頭腦,其實我當初也是一樣,但是在做了幾次設計以后,也逐漸有了一些體會。首先,對于大腦里面一定要清楚一個概念--在高頻里面,自由空間的阻抗是377歐姆,對于一般的EMI中的空間輻射來說,是由于信號的回路到了可以和空間阻抗相比擬的地步,因而信號通過空間“輻射”出來。瞭解了這一點,要做的就是把信號回路的阻抗降下來??刂菩盘柣芈返淖杩?,主要的辦法是縮短信號的長度,減少回路的面積,其次是採取合理的端接,控制回路的反射。其實控制信號回路的一個簡單的辦法就是對重點信號進行包地處理(在兩邊近的距離走地線,尤其是雙面板要特別注意,因為雙面微帶模型阻抗有150歐姆,和自由空間布相上下,而包地可以提供幾十歐姆的阻抗),請注意由于走線本身在高頻里面也是有阻抗的,所以好採用地平面或者地線多次接過孔到地平面。我很多的設計都是在採用包地以后,避免了時鐘信號的輻射超標。

可視化近場輻射診斷分析系統(tǒng)—ES67產品特點:【高效】:掃描速度快,測量時間短,自動化測量,省時、高效;【精確】:頻率分辨率高、噪聲源定位精確,數據準確可信,清楚的分析電磁兼容三要素;【一致】:空間定位精度高,測試數據實時保存,可重復精度高,測量一致性高;【靈敏】:測量系統(tǒng)底噪低,測量靈敏度高,準確測量分析小信號的輻射和干擾問題;【可視】:輻射干擾源分布及噪聲位置與芯片、器件、電路走線直接對應,分析結果直觀可視;【智能】:較強噪聲源、各頻率點噪聲、全頻譜特性等多維度智能分析,自動生成測試分析報告。電磁波不需要依靠介質傳播,各種電磁波在真空中速率固定,速度為光速。

輻射近場測量需要解決的問題:(1)考慮探頭與被測天線多次散射耦合的理論公式:在前述的理論中,所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的,這些公式對常規(guī)天線的測量有一定的精度,但對低副瓣或很低副瓣天線測量就必需考慮這些因素,因此,需要建立嚴格的耦合方程。(2)近場測量對天線口徑場診斷的精度和速度:近場測量對常規(guī)陣列天線口徑場的診斷有較好的診斷精度,但對于很低副瓣天線陣列而言,診斷精度和速度還需要進一步研究。(3)輻射近場掃頻測量的研究:就一般情況而言,天線都在一個頻帶內工作,因此,各項電指標都是頻率的函數,為了快速獲得各個頻率點的電指標,就需要進行掃頻測量。掃頻測量的理論與點頻的理論完全一樣,只是在探頭掃描時,收發(fā)測量系統(tǒng)作掃頻測量。人們周邊所有的物體時刻都在進行電磁輻射。鄭州電磁場無線性能系統(tǒng)價格

很難找到導致EMI的模擬信號和/或數字信號,歡迎來電咨詢。手機無線性能分析儀價格

可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)—IS32產品特點:【高復現(xiàn)】模擬實際失效場景,采用射頻干擾耦合注入方式,極大的提高實際問題的復現(xiàn)幾率,方便問題分析;【高精度】視覺定位和機械手臂聯(lián)動運行,高精度的定位敏感源位置,方便分析問題源頭和失效機理;【可量化】準確模擬干擾距離、干擾功率、干擾頻率等參數,并建立數據與實際問題現(xiàn)象的對應關系,將問題量化;【可視化】敏感源的分布可視化呈現(xiàn),測量結果與實際產品直接對應;【多功能】可用于板級輻射抗擾度、射頻干擾、射頻抗擾度等多種復雜抗擾度問題的測量與分析。應用領域:■芯片、器件、模組件輻射抗擾度(RS)測量與診斷分析;■射頻抗干擾(Desense)測量與診斷分析;■板級輻射抗擾度(RS)測量與診斷分析;■射頻干擾(RFI)測量與診斷分析。手機無線性能分析儀價格

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