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對于表面無任何痕跡的熔斷電阻器好壞的判斷,可借助萬用表R×1擋來測量,為保證測量準(zhǔn)確,應(yīng)將熔斷電阻器一端從電路上焊下。若測得的阻值為無窮大,則說明此熔斷電阻器已失效開路,若測得的阻值與標(biāo)稱值相差甚遠(yuǎn),表明電阻變值,也不宜再使用。在維修實踐中發(fā)現(xiàn),也有少數(shù)熔斷電阻器在電路中被擊穿短路的現(xiàn)象,檢測時也應(yīng)予以注意。4 電位器的檢測。檢查電位器時,首先要轉(zhuǎn)動旋柄,看看旋柄轉(zhuǎn)動是否平滑,開關(guān)是否靈活,開關(guān)通、斷時“喀噠”聲是否清脆,并聽一聽電位器內(nèi)部接觸點和電阻體摩擦的聲音,如有“沙沙”聲,說明質(zhì)量不好。用萬用表測試時,先根據(jù)被測電位器阻值的大小,選擇好萬用表的合適電阻擋位,然后可按下述方法進(jìn)行檢測。傳感器能感受規(guī)定的被測量并按照一定的規(guī)律轉(zhuǎn)換成可用信號的器件或裝置,通常由敏感元件和轉(zhuǎn)換元件組成。浦東新區(qū)防爆電子元器件設(shè)計
在點接觸型晶體管開發(fā)成功的同時,結(jié)型晶體管論就已經(jīng)提出,但是直至人們能夠制備超高純度的單晶以及能夠任意控制晶體的導(dǎo)電類型以后,結(jié)型晶體管材真正得以出現(xiàn)。1950年,具有使用價值的**早的鍺合金型晶體管誕生。1954年,結(jié)型硅晶體管誕生。此后,人們提出了場效應(yīng)晶體管的構(gòu)想。隨著無缺陷結(jié)晶和缺陷控制等材料技術(shù)、晶體外誕生長技術(shù)和擴(kuò)散摻雜技術(shù)、耐壓氧化膜的制備技術(shù)、腐蝕和光刻技術(shù)的出現(xiàn)和發(fā)展,各種性能優(yōu)良的電子器件相繼出現(xiàn),電子元器件逐步從真空管時代進(jìn)入晶體管時代和大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路時代。逐步形成作為高技術(shù)產(chǎn)業(yè)**的半導(dǎo)體工業(yè)。松江區(qū)進(jìn)口電子元器件供應(yīng)商蜂鳴器是一種一體化結(jié)構(gòu)的電子訊響器,采用直流電壓供電。
5 正溫度系數(shù)熱敏電阻(PTC)的檢測。檢測時,用萬用表R×1擋,具體可分兩步操作:A 常溫檢測(室內(nèi)溫度接近25℃);將兩表筆接觸PTC熱敏電阻的兩引腳測出其實際阻值,并與標(biāo)稱阻值相對比,二者相差在±2Ω內(nèi)即為正常。實際阻值若與標(biāo)稱阻值相差過大,則說明其性能不良或已損壞。B 加溫檢測;在常溫測試正常的基礎(chǔ)上,即可進(jìn)行第二步測試—加溫檢測,將一熱源(例如電烙鐵)靠近PTC熱敏電阻對其加熱,同時用萬用表監(jiān)測其電阻值是否隨溫度的升高而增大,如是,說明熱敏電阻正常,若阻值無變化,說明其性能變劣,不能繼續(xù)使用。注意不要使熱源與PTC熱敏電阻靠得過近或直接接觸熱敏電阻,以防止將其燙壞。
元件屬于不需要能源的器件。它包括:電阻、電容、電感。(又稱為被動元件Passive Components)元件分為:1、電路類元件:二極管,電阻器等。2、連接類元件:連接器,插座,連接電纜,印刷電路板(PCB)等。二、器件:工廠在生產(chǎn)加工時改變了原材料分子結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品稱為器件。器件分為:1、主動器件,它的主要特點是:(1)自身消耗電能,(2)需要外界電源。2、分立器件,分為(1)雙極性晶體三極管,(2)場效應(yīng)晶體管,(3)可控硅,(4)半導(dǎo)體電阻、電容。故在電路中起著自動調(diào)節(jié)、安全保護(hù)、轉(zhuǎn)換電路等作用。
A 用萬用表的歐姆擋測“1”、“2”兩端,其讀數(shù)應(yīng)為電位器的標(biāo)稱阻值,如萬用表的指針不動或阻值相差很多,則表明該電位器已損壞。B 檢測電位器的活動臂與電阻片的接觸是否良好。用萬用表的歐姆檔測“1”、“2”(或“2”、“3”)兩端,將電位器的轉(zhuǎn)軸按逆時針方向旋至接近“關(guān)”的位置,這時電阻值越小越好。再順時針慢慢旋轉(zhuǎn)軸柄,電阻值應(yīng)逐漸增大,表頭中的指針應(yīng)平穩(wěn)移動。當(dāng)軸柄旋至極端位置“3”時,阻值應(yīng)接近電位器的標(biāo)稱值。如萬用表的指針在電位器的軸柄轉(zhuǎn)動過程中有跳動現(xiàn)象,說明活動觸點有接觸不良的故障。模擬集成電路是指由電阻、電容、晶體管等元件集成在一起用來處理模擬信號的模擬集成電路。松江區(qū)進(jìn)口電子元器件供應(yīng)商
電子信息技術(shù)是當(dāng)今新技術(shù),電子元器件是發(fā)展電子信息技術(shù)的基礎(chǔ)。浦東新區(qū)防爆電子元器件設(shè)計
數(shù)字集成電路是將元器件和連線集成于同一半導(dǎo)體芯片上而制成的數(shù)字邏輯電路或系統(tǒng)。根據(jù)數(shù)字集成電路中包含的門電路或元器件數(shù)量,可將數(shù)字集成電路分為小規(guī)模集成(SSI)電路、中規(guī)模集成(MSI)電路、大規(guī)模集成(LSI)電路、超大規(guī)模集成(VLSI)電路和特大規(guī)模集成(ULSI)電路。小規(guī)模集成電路包含的門電路在10個以內(nèi),或元器件數(shù)不超過100個;中規(guī)模集成電路包含的門電路在10-100個之間,或元器件數(shù)在100-1000個之間;大規(guī)模集成電路包含的門電路在100個以上,或元器件數(shù)在1000個以上;浦東新區(qū)防爆電子元器件設(shè)計
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