在集成電路制造這一高精密的領(lǐng)域中，芯片生產(chǎn)線上的光刻工序堪稱關(guān)鍵的環(huán)節(jié)，其對溫濕度的要求近乎達到苛刻的程度。即便是極其微小的 1℃溫度波動，都可能引發(fā)嚴重后果。光刻機內(nèi)部的光學(xué)鏡片會因熱脹冷縮，致使光路發(fā)生細微偏移。這看似毫厘之差，卻足以讓光刻圖案精度嚴重受損，使得芯片上的電路布線出現(xiàn)偏差，甚至短路等問題，進而大幅拉低芯片的良品率。而在濕度方面，一旦濕度突破 50% 的警戒線，光刻膠便極易受潮，其感光度發(fā)生改變，導(dǎo)致曝光效果大打折扣，無疑同樣對芯片質(zhì)量產(chǎn)生不可忽視的負面影響。涉及超高精度的測量環(huán)境要求，如±0.01-0.1℃ , 甚至更高波動要求，則需要搭建精密環(huán)控系統(tǒng)。光學(xué)投影儀環(huán)境波動度

電子萬能試驗機，作為材料力學(xué)性能測試設(shè)備，在金屬材料研發(fā)、塑料制品質(zhì)量檢測等眾多領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。它能夠開展材料拉伸、壓縮、彎曲等力學(xué)性能測試，為產(chǎn)品質(zhì)量把控與材料特性研究提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐。然而，環(huán)境溫濕度的波動對其影響極大。溫度波動時，試驗機力傳感器的精度首先受到?jīng)_擊，測量的力值出現(xiàn)偏差，同時還會改變材料自身的力學(xué)性能，例如金屬在高溫下屈服強度降低，導(dǎo)致測試結(jié)果無法真實反映材料特性。濕度波動時，試驗機的夾具、傳動部件極易生銹腐蝕，致使對試樣的夾持穩(wěn)定性大打折扣，加載均勻性也難以保證，進一步降低測試精度。電子顯微鏡環(huán)境調(diào)節(jié)高精密恒溫恒濕潔凈環(huán)境的長期穩(wěn)定運行離不開具有高精度傳感器的恒溫恒濕設(shè)備。

電子顯微鏡用于觀察微觀世界，其內(nèi)部的電子束對環(huán)境要求極高。環(huán)境中的塵埃顆粒可能吸附在電子束路徑上的部件表面，影響成像質(zhì)量。精密環(huán)控柜的超高水準潔凈度控制，將空氣中塵埃過濾干凈，為電子顯微鏡提供超潔凈空間。同時，其具備的抗微震功能，能有效隔絕外界震動干擾，確保電子顯微鏡穩(wěn)定成像，讓科研人員清晰觀察微觀結(jié)構(gòu)。對于光學(xué)顯微鏡，溫度和濕度變化會影響鏡片的光學(xué)性能。濕度不穩(wěn)定可能導(dǎo)致鏡片表面產(chǎn)生水汽凝結(jié)，降低光線透過率。精密環(huán)控柜通過溫濕度控制，為光學(xué)顯微鏡提供穩(wěn)定環(huán)境，保證其光學(xué)性能穩(wěn)定，成像清晰。

光刻設(shè)備對溫濕度的要求也極高，光源發(fā)出的光線需經(jīng)過一系列復(fù)雜的光學(xué)系統(tǒng)聚焦到硅片表面特定區(qū)域，以實現(xiàn)對光刻膠的曝光，將設(shè)計好的電路圖案印制上去。當(dāng)環(huán)境溫度出現(xiàn)極其微小的波動，哪怕只是零點幾攝氏度的變化，光刻機內(nèi)部的精密光學(xué)元件就會因熱脹冷縮特性而產(chǎn)生細微的尺寸改變。這些光學(xué)元件包括鏡片、反射鏡等，它們的微小位移或形狀變化，會使得光路發(fā)生偏差。原本校準、聚焦于硅片特定坐標(biāo)的光線，就可能因為光路的改變而偏離預(yù)定的曝光位置，出現(xiàn)曝光位置的漂移。系統(tǒng)詳細記錄運行信息，無論是日常運行還是突發(fā)故障，查詢檢索都能準確定位所需。

在計量校準實驗室中，高精度的電子天平用于精確稱量微小質(zhì)量差異，對環(huán)境溫濕度要求極高。若溫度突然升高 2℃，天平內(nèi)部的金屬部件受熱膨脹，傳感器的靈敏度隨之改變，原本能測量到微克級別的質(zhì)量變化，此時卻出現(xiàn)讀數(shù)偏差，導(dǎo)致測量結(jié)果失準。濕度方面，當(dāng)濕度上升至 70% 以上，空氣中的水汽容易吸附在天平的稱量盤及內(nèi)部精密機械結(jié)構(gòu)上，增加了額外的重量，使得測量數(shù)據(jù)偏大，無法反映被測量物體的真實質(zhì)量，進而影響科研實驗數(shù)據(jù)的可靠性以及工業(yè)生產(chǎn)中原材料配比度。精密環(huán)控柜為我司自主研發(fā)的精密環(huán)境控制產(chǎn)品。光學(xué)投影儀環(huán)境潔凈棚

關(guān)于防微振，除了控制風(fēng)速降低振動外，在地面增加隔振基礎(chǔ)，可有效降低外部微振動的傳遞。光學(xué)投影儀環(huán)境波動度

激光干涉儀用于測量微小位移，精度可達納米級別。溫度波動哪怕只有 1℃，由于儀器主體與測量目標(biāo)所處環(huán)境溫度不一致，二者熱脹冷縮程度不同，會造成測量基線的微妙變化，導(dǎo)致測量位移結(jié)果出現(xiàn)偏差，在高精度機械加工零件的尺寸檢測中，這種偏差可能使零件被誤判為不合格品，增加生產(chǎn)成本。高濕度環(huán)境下，水汽會干擾激光的傳播路徑，使激光發(fā)生散射，降低干涉條紋的對比度，影響測量人員對條紋移動的精確判斷，進而無法準確獲取位移數(shù)據(jù)，給精密制造、航空航天等領(lǐng)域的科研與生產(chǎn)帶來極大困擾。光學(xué)投影儀環(huán)境波動度