因?yàn)楣步箿y(cè)量方法具有高精度的三維成像能力,所以它已被用于表面輪廓和三維結(jié)構(gòu)的精密測(cè)量。本文分析了白光共焦光譜的基本原理,建立了透明靶丸內(nèi)表面圓周輪廓測(cè)量校準(zhǔn)模型,并基于白光共焦光譜和精密旋轉(zhuǎn)軸系,開(kāi)發(fā)了透明靶丸內(nèi)、外表面圓周輪廓的納米級(jí)精度測(cè)量系統(tǒng)和靶丸圓心精密位置確定方法。使用白光共焦光譜測(cè)量靶丸殼層內(nèi)表面輪廓數(shù)據(jù)時(shí),其測(cè)量精度受到多個(gè)因素的影響,如白光共焦光譜傳感器光線的入射角、靶丸殼層厚度、殼層材料折射率和靶丸內(nèi)外表面輪廓的直接測(cè)量數(shù)據(jù) 。光譜共焦技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域可以用于材料的性能測(cè)試和分析??讬z測(cè)傳感器光譜共焦推薦廠家
客戶(hù)一直使用安裝在潔凈室的激光測(cè)量設(shè)備來(lái)檢查對(duì)齊情況,每個(gè)組件大約需要十分鐘才能完成必要的對(duì)齊檢查,耗時(shí)太久。因此,客戶(hù)要求我們開(kāi)發(fā)一種特殊用途的測(cè)試和組裝機(jī)器,以減少校準(zhǔn)檢查所需的時(shí)間?,F(xiàn)在,我們使用機(jī)器人搬運(yùn)系統(tǒng)將閥門(mén)、閥瓣和銷(xiāo)組件轉(zhuǎn)移到專(zhuān)門(mén)的自動(dòng)裝配機(jī)中。為了避免由于移動(dòng)機(jī)器人的振動(dòng)引起的任何測(cè)量干擾,我們將光譜共焦位移傳感器安裝在單獨(dú)的框架和支架上,盡管仍然靠近要測(cè)量的部件。該機(jī)器現(xiàn)已經(jīng)通過(guò)測(cè)試和驗(yàn)證 。線光譜共焦測(cè)厚度光譜共焦技術(shù)具有精度高、效率高等優(yōu)點(diǎn)。
隨著機(jī)械加工水平的不斷發(fā)展,各種微小而復(fù)雜的工件都需要進(jìn)行精確的尺寸和輪廓測(cè)量,例如測(cè)量小零件的內(nèi)壁凹槽尺寸和小圓角。為避免在接觸測(cè)量過(guò)程中刮傷光學(xué)表面,一些精密光學(xué)元件也需要進(jìn)行非接觸式的輪廓形貌測(cè)量。這些測(cè)量難題通常很難用傳統(tǒng)傳感器來(lái)解決,但可以使用光譜共焦傳感器來(lái)構(gòu)建測(cè)量系統(tǒng)。通過(guò)二維納米測(cè)量定位裝置,光譜共焦傳感器可以作為測(cè)頭,以實(shí)現(xiàn)超精密零件的二維尺寸測(cè)量。使用光譜共焦位移傳感器,可以解決渦輪盤(pán)輪廓度在線檢測(cè)系統(tǒng)中滾針渦輪盤(pán)輪廓度檢測(cè)的問(wèn)題。在進(jìn)行幾何量的整體測(cè)量過(guò)程中,還需要采用多種不同的工具和技術(shù)對(duì)其結(jié)構(gòu)體系進(jìn)行優(yōu)化,以確保幾何尺寸的測(cè)量更加準(zhǔn)確 。
共焦位移傳感器是利用共焦原理和軸向色像差現(xiàn)象對(duì)測(cè)量對(duì)象的位移進(jìn)行測(cè)量的光學(xué)測(cè)量裝置,共焦原理是指將從形成光源的像的成像面上接收到的光以縮小光圈的方式形成為反射光,軸向色像差現(xiàn)象是在光源的像中發(fā)生光軸方向上的顏色漂移的現(xiàn)象。共焦位移傳感器由作為點(diǎn)光源的使從光源出射的光出射的銷(xiāo)孔、在經(jīng)由銷(xiāo)孔出射的檢測(cè)光中引起軸向色像差并朝向測(cè)量對(duì)象會(huì)聚該檢測(cè)光的光學(xué)構(gòu)件、以及使來(lái)自測(cè)量對(duì)象的反射光光譜分散并產(chǎn)生受光信號(hào)的分光器構(gòu)成。作為檢測(cè)光,使用具有多個(gè)波長(zhǎng)的光。在經(jīng)由光學(xué)構(gòu)件照射到測(cè)量對(duì)象的檢測(cè)光中,銷(xiāo)孔允許具有在聚焦于測(cè)量對(duì)象的同時(shí)被反射的波長(zhǎng)的檢測(cè)光穿過(guò)。根據(jù)軸向色像差,各波長(zhǎng)的成像面的位置不同。因此,通過(guò)使穿過(guò)銷(xiāo)孔的檢測(cè)光的波長(zhǎng)特定來(lái)計(jì)算測(cè)量對(duì)象的位移。光譜共焦技術(shù)可以解決以往傳感器和測(cè)量系統(tǒng)精度與視場(chǎng)不能兼容的問(wèn)題。
隨著機(jī)械加工水平的進(jìn)步,各種的微小的復(fù)雜工件都需要進(jìn)行精密尺寸測(cè)量與輪廓測(cè)量,例如:小工件內(nèi)壁溝槽尺寸、小圓倒角等的測(cè)量,對(duì)于某些精密光學(xué)元件可以進(jìn)行非接觸的輪廓形貌測(cè)量,避免在接觸測(cè)量時(shí)劃傷光學(xué)表面,解決了傳統(tǒng)傳感器很難解決的測(cè)量難題。一些精密光學(xué)元件也需要進(jìn)行非接觸的輪廓形貌測(cè)量,以避免接觸測(cè)量時(shí)劃傷光學(xué)表面。這些用傳統(tǒng)傳感器難以解決的測(cè)量難題,均可用光譜共焦傳感器搭建測(cè)量系統(tǒng)以解決。通過(guò)自行塔建的二維納米測(cè)量定位裝置,選用光譜其焦傳感器作為測(cè)頭,實(shí)現(xiàn)測(cè)量超精密零件的二維尺寸,滾針對(duì)渦輪盤(pán)輪廓度檢測(cè)的問(wèn)題,利用光譜共焦式位移傳感器使得渦輪盤(pán)輪廓度在線檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)能夠得以實(shí)現(xiàn)。與此同時(shí),在進(jìn)行幾何量的整體測(cè)量過(guò)程中,還需要采取多種不同的方式對(duì)其結(jié)構(gòu)體系進(jìn)行優(yōu)化。從而讓幾何尺寸的測(cè)量更為準(zhǔn)確 。光譜共焦透鏡組設(shè)計(jì)和性能優(yōu)化是光譜共焦技術(shù)研究的重要內(nèi)容之**陣光譜共焦傳感器品牌
光譜共焦位移傳感器可以實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)別的位移和形變測(cè)量,具有高精度和高分辨率的特點(diǎn)??讬z測(cè)傳感器光譜共焦推薦廠家
線性色散設(shè)計(jì)的光譜共焦測(cè)量技術(shù)是一種利用光譜信息進(jìn)行空間分辨的光學(xué)技術(shù)。該技術(shù)利用傳統(tǒng)共焦顯微鏡中的探測(cè)光路,再加入一個(gè)光柵分光鏡或干涉儀等光譜儀器,實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的空間和光譜信息的同時(shí)采集和處理。該技術(shù)的主要特點(diǎn)在于,采用具有線性色散特性的透鏡組合,將樣品掃描后產(chǎn)生的信號(hào)分離出來(lái),利用光度計(jì)或CCD相機(jī)等進(jìn)行信號(hào)的測(cè)量和分析,以獲得高分辨率的空間和光譜數(shù)據(jù)。利用該技術(shù)我們可以獲得材料表面形貌和屬性的具體信息,如化學(xué)成分,應(yīng)變、電流和磁場(chǎng)等信息等。與傳統(tǒng)的共焦顯微技術(shù)相比,線性色散設(shè)計(jì)的光譜共焦測(cè)量技術(shù)具有更高的數(shù)據(jù)采集效率和空間分辨能力,對(duì)一些材料的表征更為準(zhǔn)確,也有更好的適應(yīng)性和可擴(kuò)展性,適用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、納米科技等領(lǐng)域的研究。但需要指出的是,由于其透鏡組合和光譜儀器的加入 ,該技術(shù)的成本相對(duì)較高,也需要更強(qiáng)的光學(xué)原理和數(shù)據(jù)分析能力支持,因此在使用前需要認(rèn)真評(píng)估和優(yōu)化實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)。孔檢測(cè)傳感器光譜共焦推薦廠家