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松江區(qū)HTOL測試機供應

來源: 發(fā)布時間:2024-03-23

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第二時間點讀點、第三時間點讀點至第n時間點讀點。在每個時間點讀點過程為:將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經由讀出放大器進行比對判斷,若iref<i,則閃存讀出“1”;若iref>i,則閃存讀出“0”。具體的,在閃存(例如norflash)產品htol可靠性驗證的階段的測試流程例如依次為:初始(***時間點)讀點、48小時(第二時間點)讀點、168小時(第三時間點)讀點、500小時(第四時間點)讀點、1000小時(第n時間點)讀點。本發(fā)明實施例的閃存參考單元未經過編譯和擦除循環(huán)而直接進行htol測試時,發(fā)現(xiàn)閃存htol可靠性驗證在48小時(hrs)讀點失效。長寧區(qū)HTOL測試機參數(shù)TH801智能老化系統(tǒng),全程數(shù)據(jù)實時記錄,讓HTOL問題更容易分析,更有追溯性。

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