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自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù),通過監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析,大幅提高HTOL效率,節(jié)省更多時(shí)間、FA成本,讓HTOL問題更容易分析,更有追溯性,讓報(bào)告更有說服力,下游客戶更放心。涵蓋模擬,數(shù)字,混合信號(hào),SOC,RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì),原理圖設(shè)計(jì),PCBlayout加工制作,老化程序開發(fā)調(diào)試,可靠性測(cè)試試驗(yàn),出具可靠性報(bào)告等一條龍服務(wù)??煽啃詼y(cè)試事業(yè)部提供可靠性測(cè)試整體解決方案,包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設(shè)備,以及測(cè)試方案制定,PCB設(shè)計(jì)制作,測(cè)試試驗(yàn),滿足各類芯片可靠性測(cè)試需求。上海頂策科技有限公司可靠性測(cè)試服務(wù),讓HTOL問題更容易分析,更有追溯性。長(zhǎng)寧區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)性能
集成電路動(dòng)態(tài)老化設(shè)備,20年發(fā)展歷史,自主研發(fā)TH801智能一體化HTOL測(cè)試機(jī),擁有多項(xiàng)發(fā)明專利及軟件著作權(quán),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析,大幅提高HTOL效率。上海頂策科技有限公司,自成立以來已經(jīng)為超過500家半導(dǎo)體公司提供高質(zhì)量,高效率,低成本,一條龍測(cè)試解決方案!涵蓋模擬,數(shù)字,混合信號(hào),SOC,RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì),原理圖設(shè)計(jì),PCBlayout加工制作,老化程序開發(fā)調(diào)試,可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn),出具可靠性報(bào)告等一條龍服務(wù)。怎樣選擇HTOL測(cè)試機(jī)電話上海頂策科技的HTOL測(cè)試機(jī)TH801,自有發(fā)明專利的智能HTOL系統(tǒng),自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù)。
4.失效判據(jù)標(biāo)準(zhǔn)失效判據(jù)備注JESD22-A108F-2017如果器件不符合采購(gòu)文件要求,則認(rèn)為失效。:1.四種標(biāo)準(zhǔn)的失效判據(jù)都根據(jù)相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行?!鏅?quán)聲明:本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章,遵循,轉(zhuǎn)載請(qǐng)附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接:。4.失效判據(jù)標(biāo)準(zhǔn)失效判據(jù)備注JESD22-A108F-2017如果器件不符合采購(gòu)文件要求,則認(rèn)為失效。:1.四種標(biāo)準(zhǔn)的失效判據(jù)都根據(jù)相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行?!鏅?quán)聲明:本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章,遵循,轉(zhuǎn)載請(qǐng)附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接:。
AEC-Q1001.對(duì)于非易失性存儲(chǔ)器樣品,在HTOL之前進(jìn)行預(yù)處理:等級(jí)0:150℃,1000h等級(jí)1:125℃,1000h等級(jí)2:105℃,1000h等級(jí)3:85℃,1000h2.各等級(jí)溫度對(duì)應(yīng)的時(shí)間是比較低要求,通過計(jì)算或測(cè)量獲取HTOL的Tj(結(jié)溫);3.當(dāng)進(jìn)行HTOL的器件Tj大于或等于最高工作溫度時(shí)的Tj,那么Tj可以代替Ta(環(huán)境溫度),但是要低于***比較大Tj;4.如果Tj被用來作為HTOL的條件,在Ta和1000h條件下的器件需要使用;(max)需要保證交直流參數(shù)?!鏅?quán)聲明:本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章,遵循,轉(zhuǎn)載請(qǐng)附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接:。 上海頂策科技有限公司智能一體化HTOL測(cè)試機(jī)TH801全程數(shù)據(jù)記錄,讓HTOL問題更容易分析,更有追溯性。
一種閃存htol測(cè)試方法,包括:提供待測(cè)閃存,所述閃存包括閃存參考單元和閃存陣列單元;所述閃存參考單元中捕獲有空穴;對(duì)所述閃存參考單元循環(huán)進(jìn)行編譯和擦除,以在所述閃存參考單元中引入電子;對(duì)所述閃存進(jìn)行htol測(cè)試,所述引入電子在所述htol測(cè)試過程中部分丟失,以對(duì)htol測(cè)試過程中所述空穴的丟失形成補(bǔ)償。具體的,待測(cè)閃存在同一閃存芯片(die)中的不同區(qū)域分布有閃存參考單元和閃存陣列單元,閃存陣列單元用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù),閃存參考單元用于提供參考閾值電壓以區(qū)分閃存陣列單元的狀態(tài)。提供的待測(cè)閃存在其生產(chǎn)工藝過程中易在閃存參考單元中捕獲。引入)空穴,所述空穴在htol測(cè)試過程中存在丟失。圖2為本發(fā)明實(shí)施例的閃存參考單元的結(jié)構(gòu)示意圖,上海頂策科技有限公司可靠性測(cè)試服務(wù),有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄,讓報(bào)告更有說服力,下游客戶更放心。HTOL測(cè)試機(jī)專賣店
上海頂策科技自主研發(fā)實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù),可靈活配置芯片工作狀態(tài),并施加信號(hào),非常方便HTOL Setup。長(zhǎng)寧區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)性能
MIL-STD-883K-2016:穩(wěn)態(tài)反向偏置S級(jí)**少時(shí)間有240h到120h共6個(gè)級(jí)別;B級(jí)**少時(shí)間352h到12h共10個(gè)級(jí)別;K級(jí)**少時(shí)間從700h到320h共6個(gè)級(jí)別。S級(jí)最低溫度從125℃到150℃共6個(gè)級(jí)別;B級(jí)別最低溫度從100℃到250℃;K級(jí)最低溫度從100℃到125℃。電壓大小全部為額定電壓B:穩(wěn)態(tài)正向偏置C:穩(wěn)態(tài)功率反向偏置D:并聯(lián)勵(lì)磁E:環(huán)形振蕩器F:溫度加速試驗(yàn)————————————————版權(quán)聲明:本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章,遵循,轉(zhuǎn)載請(qǐng)附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接:blog./qq_36671997/article/details/。 長(zhǎng)寧區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)性能
上海頂策科技有限公司屬于儀器儀表的高新企業(yè),技術(shù)力量雄厚。是一家有限責(zé)任公司(自然)企業(yè),隨著市場(chǎng)的發(fā)展和生產(chǎn)的需求,與多家企業(yè)合作研究,在原有產(chǎn)品的基礎(chǔ)上經(jīng)過不斷改進(jìn),追求新型,在強(qiáng)化內(nèi)部管理,完善結(jié)構(gòu)調(diào)整的同時(shí),良好的質(zhì)量、合理的價(jià)格、完善的服務(wù),在業(yè)界受到寬泛好評(píng)。公司擁有專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì),具有芯片測(cè)試服務(wù),芯片測(cè)試設(shè)備,HTOL老化爐等多項(xiàng)業(yè)務(wù)。頂策科技以創(chuàng)造***產(chǎn)品及服務(wù)的理念,打造高指標(biāo)的服務(wù),引導(dǎo)行業(yè)的發(fā)展。