无码毛片内射白浆视频,四虎家庭影院,免费A级毛片无码A∨蜜芽试看,高H喷水荡肉爽文NP肉色学校

PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預(yù)算在實(shí)際的測(cè)試中，為了把被測(cè)主板或插卡的PCIe信號(hào)從金手指連接器引出，PCI-SIG組織也設(shè)計(jì)了專(zhuān)門(mén)的PCIe5.0測(cè)試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類(lèi)似，也是包含了CLB板、CBB板以及專(zhuān)門(mén)模擬和調(diào)整鏈...

USB4.0技術(shù)簡(jiǎn)介USB全稱(chēng)UniversalSerialBus(通用串行總線)，早在1994年被眾多電腦廠商采納用以解決當(dāng)時(shí)接口不統(tǒng)一的問(wèn)題。在隨后二十多年時(shí)間里，USB技術(shù)不斷發(fā)展，標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)歷了USB1.0/1.1、USB2.0、USB3.0、USB3...

3、信號(hào)完整性的設(shè)計(jì)方法（步驟）掌握信號(hào)完整性問(wèn)題的相關(guān)知識(shí)；系統(tǒng)設(shè)計(jì)階段采用規(guī)避信號(hào)完整性風(fēng)險(xiǎn)的設(shè)計(jì)方案，搭建穩(wěn)健的系統(tǒng)框架；對(duì)目標(biāo)電路板上的信號(hào)進(jìn)行分類(lèi)，識(shí)別潛在的SI風(fēng)險(xiǎn)，確定SI設(shè)計(jì)的總體原則；在原理圖階段，按照一定的方法對(duì)部分問(wèn)題提前進(jìn)行SI設(shè)計(jì)...

DDR測(cè)試 由于DDR4的數(shù)據(jù)速率會(huì)達(dá)到3.2GT/s以上，DDR5的數(shù)據(jù)速率更高，所以對(duì)邏輯分析儀的要求也很高，需要狀態(tài)采樣時(shí)鐘支持1.6GHz以上且在雙采樣模式下支持3.2Gbps以上的數(shù)據(jù)速率。圖5.22是基于高速邏輯分析儀的DDR4/5協(xié)議測(cè)...

DDR測(cè)試 除了DDR以外，近些年隨著智能移動(dòng)終端的發(fā)展，由DDR技術(shù)演變過(guò)來(lái)的LPDDR(Low-PowerDDR,低功耗DDR)也發(fā)展很快。LPDDR主要針對(duì)功耗敏感的應(yīng)用場(chǎng)景，相對(duì)于同一代技術(shù)的DDR來(lái)說(shuō)會(huì)采用更低的工作電壓，而更低的工作電壓可...

一項(xiàng)是信號(hào)完整性測(cè)試，特別是對(duì)于高速信號(hào)，信號(hào)完整性測(cè)試尤為關(guān)鍵。完整性的測(cè)試手段種類(lèi)繁多，有頻域，也有時(shí)域的，還有一些綜合性的手段，比如誤碼測(cè)試。不管是哪一種測(cè)試手段，都存在這樣那樣的局限性，它們都只是針對(duì)某些特定的場(chǎng)景或者應(yīng)用而使用。只有選擇合...

需要 指出的是在 TP3(Case 2) 遠(yuǎn)端 校準(zhǔn)時(shí)， 除了 Type-C cable 外， 還 需要 ISI boards， 利用 網(wǎng) 絡(luò) 分 析 實(shí)測(cè)， 保 證 ISI boards+Type-C cable+Test fixture 整...

HDMI測(cè)試 單端測(cè)試 這些測(cè)試使用單端探頭在每個(gè)信號(hào)對(duì)內(nèi)部進(jìn)行。 a. 對(duì)內(nèi)偏移 對(duì)內(nèi)偏移測(cè)試具有重要意義，雖然信號(hào)是差分信號(hào)，但 是可以揭示了差分信號(hào)對(duì)內(nèi)實(shí)際存在的不良部分。將測(cè) 試差分對(duì)內(nèi)部的偏移，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的極限為位時(shí)間的15% (TBIT)。...

性能特點(diǎn)USB2.0USB3.0USB3.1USB3.2USB4.0 發(fā)布時(shí)間2000年2008年2013年2017年2019年 比較高接口速率480Mbps5Gbps(Genl)10Gbps速率(Gen2)20Gbps(Gen2x2)40Gb...

USB4.0的發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 在 發(fā) 送 端 測(cè) 試 中 ， 需 要 用 U S B 4 . 0 的 測(cè) 試 夾 具 在 T P 2 點(diǎn) ( 即 T y p e - C 的 輸 出 接 口 ) 把 被 測(cè) 信 號(hào) 引 出 ， 并 接 入 示 波 ...

一種ddr4內(nèi)存信號(hào)測(cè)試方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)技術(shù)領(lǐng)域1.本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其是指一種ddr4內(nèi)存信號(hào)測(cè)試方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)。背景技術(shù)：2.為保證服務(wù)器的平穩(wěn)運(yùn)行以及服務(wù)器ddr4內(nèi)存的完好使用，測(cè)量服務(wù)器內(nèi)存的信號(hào)完整性是否符合標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)成了服務(wù)...

HDMI測(cè)試 解決測(cè)試復(fù)雜化的問(wèn)題隨著速率的提升，HDMI規(guī)范定義新的均衡技術(shù)和cable 模型，也造成了測(cè)試過(guò)程的復(fù)雜化。規(guī)范定義兩種Cable mode: Category 3 Worst Cable Mode（WCM3）和 Category 3...

為了模擬傳輸通道對(duì)信號(hào)的影響，USB協(xié)會(huì)提供了相應(yīng)的測(cè)試夾具。每套測(cè)試夾具由 很多塊組成，可以模擬相應(yīng)的PCB走線并在中間插入測(cè)試電纜。這些測(cè)試夾具通過(guò)組合可 以進(jìn)行發(fā)送信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試，也可以進(jìn)行接收容限的測(cè)試，或者進(jìn)行接收容限測(cè)試前的校 準(zhǔn)。圖3 .4是...

ADC、示波器前端架構(gòu)及使用的探頭決定了示波器硬件能夠支持將垂直量程設(shè)置降到多低。所有示波器的垂直刻度設(shè)置都有一個(gè)極限點(diǎn)，超過(guò)這個(gè)點(diǎn)，硬件不再起作用，這時(shí)，即使用戶繼續(xù)使用旋鈕將垂直刻度設(shè)置變得更低，也不會(huì)改進(jìn)分辨率，因?yàn)檫@時(shí)用的是軟件放大功能。示波器廠商通常...

HDMI測(cè)試 HDMI(High Definition Multimedia Interface,高清多媒體接口)是于數(shù)字音/視頻 傳輸?shù)臄?shù)字顯示接口標(biāo)準(zhǔn)，其比較大特點(diǎn)是可以極高帶寬同時(shí)傳送高分辨率的數(shù)字視頻/音 頻/控制信號(hào)。 HDMI 的標(biāo)準(zhǔn)...

USB測(cè)試 USB3. 1的Type-C的外設(shè)接收容限的典型測(cè)試環(huán)境，測(cè)試系統(tǒng)中心是 一 臺(tái)高性能的誤碼儀。誤碼儀可以產(chǎn)生5～10Gbps的高速數(shù)據(jù)流，同時(shí)其內(nèi)部集成時(shí)鐘恢 復(fù)電路、預(yù)加重模塊、噪聲注入、參考時(shí)鐘倍頻、信號(hào)均衡電路等。接收端的測(cè)試中用...

trombone線的時(shí)延是受到其并行走線之間的耦合而影響，一種在不需要提高其間距的情況下，并且能降低耦合的程度的方法是采用sawtooth線。顯然，sawtooth線比trombone線具有更好的效果。但是，依來(lái)看它需要更多的空間。由于各種可能造成時(shí)延不同的原...

HDMI2.1物理層測(cè)試 測(cè)試中應(yīng)通過(guò)測(cè)試夾具引出被測(cè)的高速TMDS或FRL信號(hào)，使用4只探頭同時(shí)連接 被測(cè)信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，并通過(guò)SCDC/EDID的控制器來(lái)控制被測(cè)的源設(shè)備輸出不同狀態(tài)和速 率的被測(cè)信號(hào)。圖6.5是一個(gè)典型的HDMI信號(hào)質(zhì)量測(cè)試連接圖...

對(duì)于DDR2-800，這所有的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)都適用，只是有少許的差別。然而，也是知道的，菊花鏈?zhǔn)酵負(fù)浣Y(jié)構(gòu)被證明在SI方面是具有優(yōu)勢(shì)的。對(duì)于超過(guò)兩片的SDRAM，通常，是根據(jù)器件的擺放方式不同而選擇相應(yīng)的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。圖3顯示了不同擺放方式而特殊設(shè)計(jì)的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，在這些拓?fù)?..

在HDMI2.1源端測(cè)試中，示波器模擬了sink的行為，提供了端接電阻和端接電壓。EDID仿真器模擬sink的EDID，提供分辨率/速率信息，HDMI2.0的EDID仿真器也提供SCDC信息，完成與source的溝通，使source輸出需要TMDS信號(hào)。測(cè)試項(xiàng)...

當(dāng)今的電子設(shè)計(jì)工程師可以分成兩種，一種是已經(jīng)遇到了信號(hào)完整性問(wèn)題，一種是將要遇到信號(hào)完整性問(wèn)題。對(duì)于未來(lái)的電子設(shè)備，頻率越來(lái)越高，射頻元器件越來(lái)越小，越來(lái)越集中化、模塊化。因此電磁信號(hào)未來(lái)也會(huì)變得越來(lái)越密集，所以提前學(xué)習(xí)信號(hào)完整性和電源完整性相關(guān)的...

波形參數(shù)測(cè)試是數(shù)字信號(hào)質(zhì)量評(píng)估使常用的測(cè)量方法，但是隨著數(shù)字信號(hào)速率的提高，靠幅度、上升時(shí)間等的波形參數(shù)的測(cè)量方法越來(lái)越不適用了。比如下圖的一個(gè)5Gbps的信號(hào)來(lái)說(shuō)，由于受到傳輸通道的損耗的影響，不同位置的信號(hào)的幅度、上升時(shí)間、脈沖寬度等都是不一樣的。不同...

HDMI測(cè)試 除了HDMI以外，另一種應(yīng)用非常的數(shù)字顯示接口方案就是DisplayPort(DP)。 DP的發(fā)起組織也是VESA,其主要優(yōu)勢(shì)在于非常高的數(shù)據(jù)速率、方便的連接、完善的內(nèi)容保 護(hù)及基于包交換的數(shù)據(jù)傳輸方式。DP采用了與PCle及USB3....

我們現(xiàn)在對(duì)比一下兩款示波器。小信號(hào)具有一定的幅度，當(dāng)示波器垂直設(shè)置設(shè)為16mV全屏?xí)r，它會(huì)占據(jù)幾乎全屏的空間。Infiniium9000系列示波器等傳統(tǒng)示波器硬件支持的小刻度是7mV/格,低于該設(shè)置的垂直刻度,是用軟件放大實(shí)現(xiàn)的,7mV/格的設(shè)置意味著量程是5...

另外，由于5Gbps或10Gbps的信號(hào)經(jīng)過(guò)長(zhǎng)電纜和PCB傳輸以后有可能眼圖就無(wú)法張開(kāi)了，所以在芯片接收端內(nèi)部會(huì)提供CTLE(連續(xù)時(shí)間線性均衡)功能以補(bǔ)償高頻損耗，因此測(cè)試時(shí)示波器的測(cè)試軟件也要能支持CTLE才能模擬出接收端對(duì)信號(hào)均衡以后的真實(shí)的結(jié)果。圖3...

電子產(chǎn)品測(cè)試是保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段，通過(guò)對(duì)電子產(chǎn)品的各項(xiàng)參數(shù)和特性進(jìn)行測(cè)量、分析和評(píng)估，以判斷產(chǎn)品的質(zhì)量和性能是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范。本文將介紹電子產(chǎn)品測(cè)試中的基礎(chǔ)概念。 一、測(cè)試對(duì)象 電子產(chǎn)品測(cè)試的對(duì)象是各種電子產(chǎn)品，包括手機(jī)、電腦、數(shù)碼相...

電子產(chǎn)品測(cè)試是通過(guò)對(duì)電子產(chǎn)品的各項(xiàng)參數(shù)和特性進(jìn)行測(cè)量、分析和評(píng)估，以判斷產(chǎn)品的質(zhì)量和性能是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范。電子產(chǎn)品測(cè)試的目的是評(píng)估產(chǎn)品的質(zhì)量和性能，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品存在的缺陷和問(wèn)題，并提供改進(jìn)產(chǎn)品的依據(jù)。 電子產(chǎn)品測(cè)試一般包括以下幾個(gè)方面： 1....

電子產(chǎn)品測(cè)試是保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段，通過(guò)對(duì)電子產(chǎn)品的各項(xiàng)參數(shù)和特性進(jìn)行測(cè)量、分析和評(píng)估，以判斷產(chǎn)品的質(zhì)量和性能是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范。本文將介紹電子產(chǎn)品測(cè)試中的基礎(chǔ)概念。 一、測(cè)試對(duì)象 電子產(chǎn)品測(cè)試的對(duì)象是各種電子產(chǎn)品，包括手機(jī)、電腦、數(shù)碼相...

電子產(chǎn)品測(cè)試是指對(duì)電子產(chǎn)品的各項(xiàng)功能、性能、可靠性、安全和兼容性等進(jìn)行測(cè)試的一種方法。通過(guò)測(cè)試，可以檢查產(chǎn)品是否符合用戶的需求和期望，確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，提高產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力和市場(chǎng)占有率。 電子產(chǎn)品測(cè)試的范圍非常，包括手機(jī)、電腦、平板、家電、汽車(chē)電子、醫(yī)...

圖測(cè)量中需要疊加的波形或比特的數(shù)量：在眼圖測(cè)量中，疊加的波形或比特的數(shù)量不一樣，可能得到的眼圖結(jié)果會(huì)有細(xì)微的差異。由于隨機(jī)噪聲和隨機(jī)抖動(dòng)的存在，疊加的波形或比特?cái)?shù)量越多，則眼的張開(kāi)程度會(huì)越小，就越能測(cè)到惡劣的情況，但相應(yīng)的測(cè)試時(shí)間也會(huì)變長(zhǎng)。為了在測(cè)...