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高頻局放檢測背景

來源: 發(fā)布時間:2025-04-08

局部放電控制的重要性是什么?根據IEEE所做的研究;在中壓和高壓系統(tǒng)中發(fā)生的大部分故障(80%)是由局部放電引起的。它通常被視為持續(xù)時間小于1微秒的脈沖。盡管脈沖持續(xù)時間很短,但脈沖期間釋放的能量會導致導體周圍的絕緣材料劣化。如果不加以檢查,可能會導致絕緣故障。局部放電可能由于老化引起的劣化、熱應力或過大的電應力、錯誤的安裝、錯誤的工藝或錯誤的設計而發(fā)生,即使在正常操作條件下使用或傳輸高壓的設備和材料也是如此。由于其在絕緣材料中的進步和生長,它可能會充分削弱絕緣,并導致三相系統(tǒng)中的相間或相間短路。局部放電測試儀的傳感器靈敏度下降,如何進行校準?高頻局放檢測背景

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局部放電儀還應采取以下措施::::由于局部放電脈沖信號是一個非常微弱的信號,現場電磁干擾會對測量結果造成很大誤差,因此很難準確測量。為了提高測量精度,除上述抗干擾措施外,局部放電儀還應采取以下措施:(1)試驗中使用的設備應盡可能為無暈設備,尤其是試驗變壓器和耦合電容器Ck。(2)局部放電測試儀具有良好的濾波性能和電源與測量電路之間的高頻隔離。(3)局部放電測試儀的測試時間應選擇在干擾較小的時間,如夜間。局放監(jiān)測傳感器杭州國洲電力科技有限公司有哪些在線監(jiān)測的產品。

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什么是局部放電?根據國際電工委員會(IEC)61934標準,局部放電是“*部分橋接導體之間絕緣的局部放電”。PD是絕緣內部(內部PD)或絕緣表面(表面PD)局部電應力集中的結果。當局部電場應力足以電離繞組表面附近的空氣時,就會發(fā)生表面PD。表面PD通常很容易在視覺上檢測到,因為它會釋放紫外線(UV),有時還會看到微小的火花。由于局部放電,絕緣表面有時也會出現白色或黑色粉末。內部PD可能發(fā)生在任何用于承受高電場的旋轉電機的絕緣介質中。它始于固體電介質內的微觀空隙、裂縫或夾雜物,固體或液體電介質內的界面或不同絕緣材料邊界處的分層。局部放電會對絕緣系統(tǒng)造成漸進式和不可逆轉的損壞。它會產生局部溫度峰值,從而產生腐蝕性化學物質,例如氮氧化物、臭氧和硝酸。它還會產生一個小的等離子爆發(fā)并發(fā)出紫外線。所有這些應力都會損壞絕緣層。隨著更多的傷害,PD活動增加,然后造成更多的傷害。該過程可以在正反饋回路中繼續(xù),直到絕緣層無法承受正常的電應力,從而導致完全的電介質擊穿和設備故障。

我們如何檢測變壓器局部放電?電學測量方法:使用示波器或無線電干擾儀找出放電的特征波形或無線電干擾水平。超聲波檢測:檢測放電中出現的聲波,并將聲波轉換成電信號,記錄在磁帶上進行分析,測出檢測點到放電點的距離,檢測點到放電點的距離。利用傳輸時間差可以得到放電點。電信號和音頻信號?;瘜W測試:檢測油中各種溶解氣體的含量及增減規(guī)律。該測試發(fā)現油成分、比例和數量的變化,以確定是否存在局部放電(或局部過熱)。。杭州國洲電力科技有限公司局部放電測試儀的時鐘不準確,是否會影響測試數據記錄?

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(4)局部放電起始電壓和熄滅電壓的測定拆下校準裝置,其他接線不變。當試驗電壓波形符合要求時,從遠低于預期局部放電起始電壓的電壓開始加壓,以規(guī)定的速度升壓,直至放電容量達到規(guī)定值。此時的電壓為局部放電起始電壓。然后將電壓升高10%,再降低電壓,直到放電容量等于上述規(guī)定值,相應的電壓即為局部放電的熄滅。測量時,施加的電壓不允許超過被測物的額定耐壓。此外,反復施加接近它的電壓可能會損壞測試對象。(5)測量規(guī)定試驗電壓下的局部放電由上可見,表征局部放電的參數都是在特定電壓下測得的,這個電壓可能遠高于局部放電起始電壓。準備使用局部放電測試儀時,該如何確認其電源適配且接地良好?國洲電力局放算法

局部放電是在絕緣系統(tǒng)不連續(xù)時引起的。高頻局放檢測背景

局部放電測試儀應注意哪些地方。局部放電產生的檢測信號很弱,*為微伏量級。就值而言,它很容易被外部干擾信號淹沒。因此,必須考慮抑制干擾信號的影響,并采取有效的抗干擾措施。局部放電試驗儀試驗中對某些干擾的抑制方法如下:(1)電源的干擾可以用濾波器抑制。該濾波器應能抑制探測器頻寬的所有頻率,但可以通過低頻試驗電壓。(2)接地系統(tǒng)的干擾可以通過單獨連接將試驗電路連接到適當的接地點來去除。附近所有接地金屬均應接地良好,無電位浮動。(3)放電試驗線耦合引入外部干擾源,如高壓試驗、附近開關操作、無線電發(fā)射引起的靜電或磁感應和電磁輻射,誤認為是放電脈沖。如果不能去除這些干擾信號源,則應對試驗線進行處理,使其表面光潔度好,曲率半徑大,并進行屏蔽。設計良好的薄金屬皮、金屬板或鋼絲鋼需要屏蔽。有時樣品的金屬外殼應用作屏蔽。如果可能的話,可以建造一個屏蔽實驗室。高頻局放檢測背景