信息與通信技術(shù)（ICT，informationandcommunicationstechnology）是一個(gè)涵蓋性術(shù)語，覆蓋了所有通信設(shè)備或應(yīng)用軟件：比如說，收音機(jī)、電視、移動(dòng)電話、計(jì)算機(jī)、網(wǎng)絡(luò)硬件和軟件、衛(wèi)星系統(tǒng)，等等；以及與之相關(guān)的各種服務(wù)和應(yīng)用軟件，例如視頻會(huì)議和遠(yuǎn)程教學(xué)。此術(shù)語常常用在某個(gè)特定領(lǐng)域里，例如教育領(lǐng)域的信息通信技術(shù)，健康保健領(lǐng)域的信息通信技術(shù)，圖書館里的信息通信技術(shù)等等。此術(shù)語在美國(guó)之外的地方使用更普遍。在生產(chǎn)線路板時(shí)，檢測(cè)電容是否插反是非常有必要的，特別人工插件的生產(chǎn)線，插錯(cuò)或者插反的概率非常高。ICT測(cè)試點(diǎn)的要求有測(cè)點(diǎn)焊盤的中心間距至少為50mil，若能達(dá)到75mil或以上則可以降低治具成本。沈陽(yáng)ict在線測(cè)試治具廠家報(bào)價(jià)

ICT測(cè)試點(diǎn)的要求：1.測(cè)試點(diǎn)的焊盤大小至少要有28mil，較好在35mil以上，建議設(shè)計(jì)為1mm。2.測(cè)點(diǎn)焊盤的中心間距至少為50mil，若能達(dá)到75mil或以上則可以降低治具成本。3.測(cè)試點(diǎn)不能被遮擋、覆蓋，焊盤中心距離器件外框至少120mil。4.如果空間不允許測(cè)試點(diǎn)放到了SMD焊盤上，一般應(yīng)放在焊盤的三分之一處，并保證不被貼片覆蓋的測(cè)試點(diǎn)焊盤距離30mil以上。5.測(cè)試點(diǎn)距離板框必須在120mil以上，測(cè)試點(diǎn)外緣和定位孔外緣至少120mil以上。6.測(cè)試點(diǎn)是焊盤，直徑為30-50mil或更大，測(cè)試點(diǎn)是孔，內(nèi)徑不超過15mil，盤徑為40-50mil或更大。7.測(cè)試點(diǎn)較好放置在同面，可以減少測(cè)試成本。濟(jì)南在線ICT測(cè)試儀器供應(yīng)商ICT測(cè)試治具：測(cè)試太厚的松香板子不只造成不良的電氣接觸，也會(huì)留住松香在測(cè)試針上造成接下來的測(cè)試。

常見的測(cè)試治具有哪些？1、ICT測(cè)試治具：ICT測(cè)試治具是對(duì)在線元器件的性能、原理及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。ICT測(cè)試治具是生產(chǎn)中初道測(cè)試工序，能及時(shí)反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，ICT測(cè)試治具具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)，同時(shí)維修方便從而為客戶提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。2、老化測(cè)試治具：用于對(duì)產(chǎn)品或半成品進(jìn)行抗疲勞的試驗(yàn)，即進(jìn)行破壞性試驗(yàn)，判斷產(chǎn)品的使用壽命是否符合規(guī)定的期限的一種治具，稱作老化測(cè)試治具。

ICT測(cè)試治具的針應(yīng)該如何保養(yǎng)？1、測(cè)試針擦拭時(shí)應(yīng)該要注意使用防靜電刷是安全和快速的方法。金屬刷可能會(huì)損害針頭或鍍層，造成不順利的測(cè)試結(jié)果。2、對(duì)ICT測(cè)試環(huán)境保養(yǎng)，保持環(huán)境干凈。測(cè)試環(huán)境是弄臟測(cè)試針主要的促成因素，空氣傳播中的污染物，像灰塵會(huì)掉落在針頭上引起接觸問題。一個(gè)好的環(huán)境保護(hù)會(huì)確保測(cè)試針的清潔度。3、ICT測(cè)試針按正確的流程操作測(cè)試PCB板時(shí)還有一個(gè)因素要考慮，測(cè)試太厚松香的板子不只造成不良的電氣接觸，也會(huì)留住松香在測(cè)試針上造成接下來的測(cè)試。一個(gè)良好的流程控制對(duì)于減低松香在PCB板上是相當(dāng)重要的。ICT電感測(cè)試：電感的測(cè)試方法和電容的測(cè)試類似，只用交流信號(hào)測(cè)試。

導(dǎo)致ICT測(cè)試冶具測(cè)試不良的原因分析：IC空焊不良（以TestJet測(cè)試）測(cè)試值偏小，可能原因：1）IC的此腳空焊；2）測(cè)試針接觸不良；3）從測(cè)試點(diǎn)至IC腳之間Open。4）IC此腳的內(nèi)部不良（可能性極少）；測(cè)試值偏大，可能原因：1）有短路現(xiàn)象；2）IC此腳的內(nèi)部不良（可能性極少）。4．元器件不良，測(cè)試值偏差超差比較小，則可能原因：1）器件本身的偏差就這么大；2）ICT測(cè)試冶具測(cè)試針的接觸電阻較大；3）錯(cuò)件、焊接不良、反裝。測(cè)試值偏差超差比較大，則可能原因：1）器件壞掉；2）測(cè)試針壞掉（與該針相連的器件均超差比較大）3）測(cè)試點(diǎn)上有松香等絕緣物品；4）PCB上銅箔斷裂，或ViaHole與銅箔之間Open。5）錯(cuò)件、漏件、反裝；6）器件焊接不良。ict測(cè)試治具的工作原理：主要是靠測(cè)試探針接觸PCB出來的測(cè)試點(diǎn)來檢測(cè)PCB的線路。長(zhǎng)沙壓床式治具直銷廠家

ict設(shè)備的功能有能夠前期找出制程不良所在。沈陽(yáng)ict在線測(cè)試治具廠家報(bào)價(jià)

ICT測(cè)試治具能夠檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量，對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試，對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試，如所有74系列、Memory類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等IC。可通過直接對(duì)在線器件電氣性能的測(cè)試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯(cuò)、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上，故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多專業(yè)知識(shí)。采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試，操作簡(jiǎn)單，測(cè)試快捷迅速，單板的測(cè)試時(shí)間一般在幾秒至幾十秒。沈陽(yáng)ict在線測(cè)試治具廠家報(bào)價(jià)

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