ICT測(cè)試不良及常見故障的分析方法：零件不良：所謂零件不良是指在ICT測(cè)試時(shí)，顯示“OpenFail”在零件不良打印報(bào)表中其量測(cè)值往往與該零件的標(biāo)準(zhǔn)值不一致，而存在一定的偏移，這種偏移有時(shí)很大，有時(shí)很小，出現(xiàn)的原因也很多，下面分以下幾個(gè)步驟加以分析：A．如果是M-V：9999.99Dev：+999.9%，那么可能存在的原因有以下幾個(gè)方面：（1）空焊（2）漏件；（3）PCB開路（4）測(cè)試點(diǎn)有問題：a．針未接觸到；b．測(cè)試點(diǎn)氧化；c．測(cè)試點(diǎn)有東西擋??；d．測(cè)試點(diǎn)在防焊區(qū)。ict設(shè)備的功能有能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣夹畔⒁源蛴』驁?bào)表的形式提供給維修人員。武漢ICT儀器價(jià)格

ICT測(cè)試治具中的探針如何選用？通常ICT測(cè)試治具的探針有很多的規(guī)格，針主要是由三個(gè)部份組成：一是針管，主要是以銅合金為材料外面鍍金;二是彈簧，主要琴鋼線和彈簧鋼外面鍍金;三是針頭，主要是工具鋼(SK)鍍鎳或者鍍金，以上三個(gè)部分組裝成一種探針。選用ICT測(cè)試治具探針主要是根據(jù)線路板的中心距和被測(cè)點(diǎn)的開關(guān)而定，PCB板上所要測(cè)試的點(diǎn)與點(diǎn)之間越近，選用探針的外徑也就越細(xì)，國(guó)產(chǎn)的探針質(zhì)量普通還可以的。一般超過0.31含0.31毫米的國(guó)產(chǎn)探針都過關(guān)，測(cè)試次數(shù)都可以保證在20萬次到15萬次左右，雖然盡快產(chǎn)品說是100萬次，實(shí)際使用的效果也就在這個(gè)水平稍高一些而已，國(guó)產(chǎn)和進(jìn)口產(chǎn)品很大的區(qū)別是在電鍍層的耐磨性，因?yàn)獒樀牟牧隙际沁M(jìn)口原料，所以進(jìn)口和國(guó)產(chǎn)差別不大。武漢ICT儀器價(jià)格ICT測(cè)試治具測(cè)試結(jié)果的好與壞，除了一些測(cè)試技巧之外，測(cè)試治具的選擇和合適的測(cè)試設(shè)備也一樣重要。

ICT測(cè)試治具的一些測(cè)試，IC保護(hù)二極體，測(cè)試原理：利用IC各引腳對(duì)IC地腳或電源腳存在的保護(hù)二極體對(duì)IC引腳保護(hù)二極體進(jìn)行測(cè)試?？蓽y(cè)試出IC保護(hù)二極體是否完好，被測(cè)試IC是否極反，移位。IC空焊測(cè)試TESTJET測(cè)試原理：利用放置在治具上模的感測(cè)板壓貼在待測(cè)的IC上，利用量測(cè)感測(cè)板的銅箔與IC腳框之間的電容量偵測(cè)接腳的開路。系統(tǒng)由測(cè)試點(diǎn)送一個(gè)200mV,10KHz的信號(hào)到IC的接腳上，信號(hào)經(jīng)過ICframe與感測(cè)板之間的電容耦合到感測(cè)板上再經(jīng)過架在感測(cè)板上的放大器接到64Channel的Signalconditioningcard做選擇和放大信號(hào)的工作，較后接到系統(tǒng)的TestJetBoard去量測(cè)信號(hào)的強(qiáng)度。如果IC的接腳有開路情況系統(tǒng)會(huì)因偵測(cè)不到信號(hào)而得知其為開路。Testjet通常用來測(cè)試IC元件由于生產(chǎn)引起的缺陷:開路、錯(cuò)位、丟失。電解電容三端測(cè)試：測(cè)量電容外殼對(duì)電容正極和負(fù)極阻抗不同。其他零件測(cè)試：晶振測(cè)量其電容，變壓器測(cè)量其電阻。

如何降低ICT測(cè)試治具的成本問題：測(cè)試治具的測(cè)試成本主要是測(cè)試設(shè)備選擇與制作材料的成本。根據(jù)數(shù)據(jù)顯示，若用于高密度板，當(dāng)平均產(chǎn)量小于150平方公尺以下時(shí)，ICT測(cè)試治具測(cè)試成本將會(huì)高于$200(18%)以上，這已經(jīng)不是一般生產(chǎn)所能承擔(dān)的成本。但是隨著電子產(chǎn)品的變化速度加快，使得單一電路設(shè)計(jì)版本的產(chǎn)品生命周期變短，因此電子產(chǎn)品的發(fā)展趨勢(shì)將是ICT測(cè)試治具廠商在選購(gòu)測(cè)試設(shè)備時(shí)，不容忽視的一個(gè)課題。1、從設(shè)計(jì)測(cè)試方法和工藝策略中節(jié)約成本。當(dāng)設(shè)計(jì)一個(gè)測(cè)試方法和工藝策略時(shí)，必須考慮到無數(shù)的變量，這時(shí)就要根據(jù)不同的情況選擇不同的測(cè)試方法與制作方法。2、設(shè)備選擇與成本控制的關(guān)系。不同廠家有不同的訂單結(jié)構(gòu)，訂單結(jié)構(gòu)在很大程度上制約著設(shè)備選擇。小測(cè)試大的優(yōu)點(diǎn)是市場(chǎng)反應(yīng)速度快，成本特低，但檢測(cè)速度慢，一般檢測(cè)一個(gè)出貨單元需三至十幾分鐘，適合測(cè)試樣板和小批量訂單。若是客戶要求打樣品，則可選擇小測(cè)試，直到客戶做批量訂單時(shí)再改做治具測(cè)試，這樣免去了客戶更改過程或撤銷訂單中治具制作成本。ICT測(cè)試治具測(cè)驗(yàn)其作業(yè)辦法主要在元器件的線路上。

ICT測(cè)試治具工程師的主要能力要求：一般ICT測(cè)試工程師要會(huì)使用AUTOCAD或者Solidworks兩種設(shè)計(jì)軟件能夠熟練使用Tebo、CAM350、AUTOCAD等軟件）。ICT測(cè)試工程師還要有有功能治具、CT、FCP治具設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)背景。熟悉電子元器件性能參數(shù)，能夠?qū)ct程序的編輯、調(diào)試、優(yōu)化、具備模擬和數(shù)字電路知識(shí)及電路分析能力；了解ict的測(cè)試原理；熟悉ict的程序編輯、調(diào)試及治具的制作；熟練使用騰博軟件cad等軟件；會(huì)使用騰博軟件分析抓取測(cè)試點(diǎn)位和探針型號(hào)。ICT治具的優(yōu)點(diǎn)：降低成本、減少檢查操作工人、提高生產(chǎn)量。徐州ICT自動(dòng)化測(cè)試儀器生產(chǎn)廠家

ICT測(cè)試治具因測(cè)試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測(cè)試手段之一。武漢ICT儀器價(jià)格

ICT測(cè)試治具的制作方法：在印刷電路板的生產(chǎn)制造過程中，多采用ICT(InCircuitTester)測(cè)試儀，通過相匹配的測(cè)試治具，在線檢測(cè)電路板是否合格，測(cè)試完成后還需對(duì)相應(yīng)的電路板進(jìn)行標(biāo)記以區(qū)分良品和不良品。目前，對(duì)電路板進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)較好的方式是采用硬刻技術(shù)，該技術(shù)的具體原理是：在ICT測(cè)試治具上設(shè)置測(cè)試機(jī)構(gòu)和蓋章裝置，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)連接到ICT測(cè)試儀，在對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)試后，蓋章裝置利用雕刻工具在電路板表面雕刻相應(yīng)標(biāo)識(shí)以達(dá)到區(qū)分良品和不良品的目的。武漢ICT儀器價(jià)格

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