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全自動(dòng)顯微維氏硬度計(jì)在電子元器件檢測(cè)中的重要作用
全自動(dòng)顯微維氏硬度計(jì):提高材料質(zhì)量評(píng)估的關(guān)鍵工具
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跨越傳統(tǒng)界限:全自動(dòng)顯微維氏硬度計(jì)在復(fù)合材料檢測(cè)中的應(yīng)用探索
從原理到實(shí)踐:深入了解全自動(dòng)顯微維氏硬度計(jì)的工作原理
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全自動(dòng)金相切割機(jī)的工作原理及優(yōu)勢(shì)解析-全自動(dòng)金相切割機(jī)
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全自動(dòng)維氏硬度計(jì)在我國(guó)市場(chǎng)的發(fā)展現(xiàn)狀及展望-全自動(dòng)維氏硬度計(jì)
動(dòng)態(tài)光散射理論:粒子的擴(kuò)散效應(yīng):懸浮的粒子并不是靜止不動(dòng)的,相反,他們以布朗運(yùn)動(dòng)(Brownianmotion)的方式無(wú)規(guī)則的運(yùn)動(dòng),布朗運(yùn)動(dòng)主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此,到達(dá)PMT檢測(cè)區(qū)的每一束散射光隨時(shí)間也呈無(wú)規(guī)則波動(dòng),這是由于產(chǎn)生散射光的粒子的位置不同而導(dǎo)致的無(wú)規(guī)則波動(dòng)。因?yàn)檫@些光互相干涉在一起,在檢測(cè)器中檢測(cè)到的光強(qiáng)值就會(huì)隨時(shí)間而不斷波動(dòng)。粒子很小的位移需要在相位上產(chǎn)生很大的變化,進(jìn)而產(chǎn)生有實(shí)際意義的波動(dòng),于是這些波動(dòng)在凈光強(qiáng)值上反應(yīng)出來(lái)。 DLS測(cè)量粒徑技術(shù)的關(guān)鍵物理概念是基于粒子的波動(dòng)時(shí)間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡(jiǎn)化這個(gè)概念,我們現(xiàn)在假定粒子是均一大小的,具有相同的擴(kuò)散系數(shù)(diffusion coefficient)。分散體系中的小粒子運(yùn)動(dòng)的快,將會(huì)導(dǎo)致光強(qiáng)波動(dòng)信號(hào)變化很快;而相反地,大粒子擴(kuò)散地畢竟慢,導(dǎo)致了光強(qiáng)值的變化比較慢。比如在檢測(cè)右旋糖酐大分子時(shí),折射率的特性會(huì)引起光散射強(qiáng)度不足。常見(jiàn)zeta電位及納米粒度儀服務(wù)電話
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì): 一、模塊化設(shè)計(jì):Nicomp380納米激光粒度儀是全球率先在應(yīng)用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的先進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級(jí)和增加,Nicomp380的功能體系越來(lái)越強(qiáng)大,可以用于各種復(fù)雜體系的檢測(cè)分析。二、自動(dòng)稀釋模塊(選配):自動(dòng)稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來(lái)的誤差,且不需要人工不斷試錯(cuò)來(lái)獲得合適的測(cè)試濃度,這縮短了測(cè)試者寶貴時(shí)間,且無(wú)需培訓(xùn),測(cè)試結(jié)果重現(xiàn)性好,誤差率<1%。三、380/HPLD大功率激光器:美國(guó)PSS粒度儀公司在開(kāi)發(fā)儀器的過(guò)程中,考慮到在各種極端實(shí)驗(yàn)測(cè)試條件中不同的需求,對(duì)不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對(duì)極小的粒子也能搜集到足夠的散射信號(hào),使得儀器能夠得到極小粒子的粒徑分布。同樣,大功率激光器在測(cè)試大粒子的時(shí)候同樣也很有幫助,比如在檢測(cè)右旋糖酐大分子時(shí),折射率的特性會(huì)引起光散射強(qiáng)度不足。因?yàn)榇蠊β始す馄鞯奶匦?,?huì)彌補(bǔ)散射光強(qiáng)的不足和衰減,測(cè)試極其微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質(zhì)以及其他大分子不再是一個(gè)苛刻的難題。即使沒(méi)有色譜分離,Nicomp380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。常見(jiàn)zeta電位及納米粒度儀服務(wù)電話技術(shù)優(yōu)勢(shì):4、鈀電極。
動(dòng)態(tài)光散射理論:粒子的擴(kuò)散效應(yīng):懸浮的粒子并不是靜止不動(dòng)的,相反,他們以布朗運(yùn)動(dòng)(Brownianmotion)的方式無(wú)規(guī)則的運(yùn)動(dòng),布朗運(yùn)動(dòng)主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此,到達(dá)PMT檢測(cè)區(qū)的每一束散射光隨時(shí)間也呈無(wú)規(guī)則波動(dòng),這是由于產(chǎn)生散射光的粒子的位置不同而導(dǎo)致的無(wú)規(guī)則波動(dòng)。因?yàn)檫@些光互相干涉在一起,在檢測(cè)器中檢測(cè)到的光強(qiáng)值就會(huì)隨時(shí)間而不斷波動(dòng)。粒子很小的位移需要在相位上產(chǎn)生很大的變化,進(jìn)而產(chǎn)生有實(shí)際意義的波動(dòng),于是這些波動(dòng)在凈光強(qiáng)值上反應(yīng)出來(lái)。 DLS測(cè)量粒徑技術(shù)的關(guān)鍵物理概念是基于粒子的波動(dòng)時(shí)間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡(jiǎn)化這個(gè)概念,我們現(xiàn)在假定粒子是均一大小的,具有相同的擴(kuò)散系數(shù)(diffusion coefficient)。分散體系中的小粒子運(yùn)動(dòng)的快,將會(huì)導(dǎo)致光強(qiáng)波動(dòng)信號(hào)變化很快;而相反地,大粒子擴(kuò)散地畢竟慢,導(dǎo)致了光強(qiáng)值的變化比較慢。
Nicomp多峰分布概念:基線調(diào)整自動(dòng)補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列儀器的兩個(gè)主要特點(diǎn),Nicomp創(chuàng)始人DaveNicole很早就認(rèn)識(shí)到傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布,這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符,因?yàn)楝F(xiàn)實(shí)中很多樣本是多分散體系,非單分散體系,而且高斯分布靈敏性不足,分辨率不高,這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開(kāi)創(chuàng)的Nicomp多峰分布理論,提高了動(dòng)態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。Nicomp多峰分布優(yōu)勢(shì)Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不只可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果,更可以通過(guò)Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實(shí)情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計(jì),Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。技術(shù)優(yōu)勢(shì):2、可搭配不同功率光源。
Zeta電勢(shì)電位原理1.什么是ZETA電勢(shì)電位:Zeta電位(Zetapotential)是指剪切面(ShearPlane)的電位,又叫電動(dòng)電位或電動(dòng)電勢(shì)(ζ-電位或ζ-電勢(shì)),是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。2.STERN雙電子層:膠核表面擁有一層離子,稱(chēng)為電位離子,電位離子通過(guò)靜電作用,把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周?chē)?,被吸引的離子稱(chēng)為反離子,越靠近膠核表面的地方反離子越密集,相反,越遠(yuǎn)的地方反離子越稀疏,他們的電荷總量與電位離子相等并且符號(hào)相反。因此,整個(gè)膠團(tuán)是處于電中性狀態(tài),而膠核表面電勢(shì)是醉高的,根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢(shì)。3.DLS散射系統(tǒng)如何測(cè)ZETA電位:目前測(cè)量ZETA電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動(dòng)電位法以及超聲波法。NicompZ3000采用的是主流的電泳法測(cè)試ZETA。其開(kāi)創(chuàng)的Nicomp多峰分布理論,提高了動(dòng)態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。常見(jiàn)zeta電位及納米粒度儀服務(wù)電話
Nicomp 380 系列納米激光粒度儀 專(zhuān)為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案。常見(jiàn)zeta電位及納米粒度儀服務(wù)電話
Zeta電勢(shì)電位原理1.什么是ZETA電勢(shì)電位:Zeta電位(Zetapotential)是指剪切面(ShearPlane)的電位,又叫電動(dòng)電位或電動(dòng)電勢(shì)(ζ-電位或ζ-電勢(shì)),是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。2.STERN雙電子層:膠核表面擁有一層離子,稱(chēng)為電位離子,電位離子通過(guò)靜電作用,把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周?chē)?,被吸引的離子稱(chēng)為反離子,越靠近膠核表面的地方反離子越密集,相反,越遠(yuǎn)的地方反離子越稀疏,他們的電荷總量與電位離子相等并且符號(hào)相反。因此,整個(gè)膠團(tuán)是處于電中性狀態(tài),而膠核表面電勢(shì)是醉高的,根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢(shì)。3.DLS散射系統(tǒng)如何測(cè)ZETA電位:目前測(cè)量ZETA電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動(dòng)電位法以及超聲波法。NicompZ3000采用的是主流的電泳法測(cè)試ZETA。常見(jiàn)zeta電位及納米粒度儀服務(wù)電話