技術優(yōu)勢1、PMT高靈敏度檢測器；2、可搭配不同功率光源；3、雙列直插式電極和樣品池，可反復使用成千上萬次；4、鈀電極；5、精確度高，接近樣品真實值；6、復合型算法：高斯（Gaussion）單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換；相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換；7、快速檢測，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；8、結果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；9、符合USP,CP等個多藥典要求；10、無需校準；11、模塊化設計便于維護和升級；（1）可自動稀釋模塊（選配）；（2）搭配多角度檢測器（選配）；（3）自動進樣系統(tǒng)（選配）；粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm，ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。廣東有哪些zeta電位及納米粒度儀產(chǎn)品介紹

       小知識——光電倍增管（PMT)光電倍增管（Photomultiplier，簡稱PMT），是一種對紫外光、可見光和近紅外光極其敏感的特殊真空管。它能使進入的微弱光信號增強至原本的108倍，使光信號能被測量。小知識——光電二極管（APD)光電二極管是由玻璃封裝的真空裝置，其內(nèi)包含光電陰極(photocathode)，幾個二次發(fā)射極(dynode)和一個陽極。入射光子撞擊光電陰極，產(chǎn)生光電效應，產(chǎn)生的光電子被聚焦到二次發(fā)射極。其后的工作原理如同電子倍增管，電子被加速到二次發(fā)射極產(chǎn)生多個二次電子，通常每個二次發(fā)射極的電位差在100到200伏特。二次電子流像瀑布一般，經(jīng)過一連串的二次發(fā)射極使得電子倍增，然后到達陽極。一般光電倍增管的二次發(fā)射極是分離式的，而電子倍增管的二次發(fā)射極是連續(xù)式的。廣東進口zeta電位及納米粒度儀什么價格對不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。

小知識——光電倍增管（PMT)光電倍增管（Photomultiplier，簡稱PMT），是一種對紫外光、可見光和近紅外光極其敏感的特殊真空管。它能使進入的微弱光信號增強至原本的108倍，使光信號能被測量。小知識——光電二極管（APD)光電二極管是由玻璃封裝的真空裝置，其內(nèi)包含光電陰極(photocathode)，幾個二次發(fā)射極(dynode)和一個陽極。入射光子撞擊光電陰極，產(chǎn)生光電效應，產(chǎn)生的光電子被聚焦到二次發(fā)射極。其后的工作原理如同電子倍增管，電子被加速到二次發(fā)射極產(chǎn)生多個二次電子，通常每個二次發(fā)射極的電位差在100到200伏特。二次電子流像瀑布一般，經(jīng)過一連串的二次發(fā)射極使得電子倍增，然后到達陽極。一般光電倍增管的二次發(fā)射極是分離式的，而電子倍增管的二次發(fā)射極是連續(xù)式的。

       產(chǎn)品優(yōu)勢：四、雪崩二極管(APD)高靈敏度檢測器（選配）Nicomp380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測器（相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果）。APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度，如蛋白質、不溶性膠束、濃度極低的體系以及大分子基團，他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低，這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個大功率激光發(fā)生器模塊，在非常短的時間內(nèi)就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。五、380/MA多角度檢測器（選配）粒徑大于100nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp380可以配備范圍在10°-175，步長0.7°的多角度測角器，從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品，通過調(diào)節(jié)角度進行檢測，改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。Nicomp多峰分布概念： 基線調(diào)整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器的兩個主要特點。

Zeta電勢電位原理1.什么是ZETA電勢電位：Zeta電位（Zetapotential）是指剪切面(ShearPlane)的電位，又叫電動電位或電動電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標。2.STERN雙電子層：膠核表面擁有一層離子，稱為電位離子，電位離子通過靜電作用，把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周圍，被吸引的離子稱為反離子，越靠近膠核表面的地方反離子越密集，相反，越遠的地方反離子越稀疏，他們的電荷總量與電位離子相等并且符號相反。因此，整個膠團是處于電中性狀態(tài)，而膠核表面電勢是醉高的，根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢。3.DLS散射系統(tǒng)如何測ZETA電位：目前測量ZETA電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動電位法以及超聲波法。NicompZ3000采用的是主流的電泳法測試ZETA。采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布。有哪些zeta電位及納米粒度儀執(zhí)行標準

五、380/MA多角度檢測器（選配） 粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。廣東有哪些zeta電位及納米粒度儀產(chǎn)品介紹

Nicomp多峰分布概念：基線調(diào)整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列儀器的兩個主要特點，Nicomp創(chuàng)始人DaveNicole很早就認識到傳統(tǒng)的動態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布，這和實踐生產(chǎn)生活中不相符，因為現(xiàn)實中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)的Nicomp多峰分布理論，提高了動態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。Nicomp多峰分布優(yōu)勢Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不只可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結果，更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設計，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。 廣東有哪些zeta電位及納米粒度儀產(chǎn)品介紹