Zeta電勢電位原理1.什么是ZETA電勢電位：Zeta電位（Zetapotential）是指剪切面(ShearPlane)的電位，又叫電動電位或電動電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。2.STERN雙電子層：膠核表面擁有一層離子，稱為電位離子，電位離子通過靜電作用，把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周圍，被吸引的離子稱為反離子，越靠近膠核表面的地方反離子越密集，相反，越遠(yuǎn)的地方反離子越稀疏，他們的電荷總量與電位離子相等并且符號相反。因此，整個膠團(tuán)是處于電中性狀態(tài)，而膠核表面電勢是醉高的，根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢。3.DLS散射系統(tǒng)如何測ZETA電位：目前測量ZETA電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動電位法以及超聲波法。NicompZ3000采用的是主流的電泳法測試ZETA。技術(shù)優(yōu)勢：6、復(fù)合型算法：相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換。廣東服務(wù)zeta電位及納米粒度儀常見問題

   技術(shù)優(yōu)勢1、PMT高靈敏度檢測器；2、可搭配不同功率光源；3、雙列直插式電極和樣品池，可反復(fù)使用成千上萬次；4、鈀電極；5、精確度高，接近樣品真實(shí)值；6、復(fù)合型算法：高斯（Gaussion）單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換；相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換；7、快速檢測，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；8、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；9、符合USP,CP等個多藥典要求；10、無需校準(zhǔn)；11、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級；（1）可自動稀釋模塊（選配）；（2）搭配多角度檢測器（選配）；（3）自動進(jìn)樣系統(tǒng)（選配）；廣東怎樣zeta電位及納米粒度儀單價(jià)二、自動稀釋模塊（選配）： 自動稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差。

      Zeta電勢電位原理1.什么是ZETA電勢電位：Zeta電位（Zetapotential）是指剪切面(ShearPlane)的電位，又叫電動電位或電動電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。2.STERN雙電子層：膠核表面擁有一層離子，稱為電位離子，電位離子通過靜電作用，把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周圍，被吸引的離子稱為反離子，越靠近膠核表面的地方反離子越密集，相反，越遠(yuǎn)的地方反離子越稀疏，他們的電荷總量與電位離子相等并且符號相反。因此，整個膠團(tuán)是處于電中性狀態(tài)，而膠核表面電勢是醉高的，根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢。3.DLS散射系統(tǒng)如何測ZETA電位：目前測量ZETA電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動電位法以及超聲波法。NicompZ3000采用的是主流的電泳法測試ZETA。

       Nicomp多峰分布概念：基線調(diào)整自動補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列儀器的兩個主要特點(diǎn)，Nicomp創(chuàng)始人DaveNicole很早就認(rèn)識到傳統(tǒng)的動態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布，這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符，因?yàn)楝F(xiàn)實(shí)中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)的Nicomp多峰分布理論，提高了動態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。Nicomp多峰分布優(yōu)勢Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不只可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果，更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實(shí)情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計(jì)，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。因?yàn)榇蠊β始す馄鞯奶匦?，會彌補(bǔ)散射光強(qiáng)的不足和衰減。

       小知識——光電倍增管（PMT)光電倍增管（Photomultiplier，簡稱PMT），是一種對紫外光、可見光和近紅外光極其敏感的特殊真空管。它能使進(jìn)入的微弱光信號增強(qiáng)至原本的108倍，使光信號能被測量。小知識——光電二極管（APD)光電二極管是由玻璃封裝的真空裝置，其內(nèi)包含光電陰極(photocathode)，幾個二次發(fā)射極(dynode)和一個陽極。入射光子撞擊光電陰極，產(chǎn)生光電效應(yīng)，產(chǎn)生的光電子被聚焦到二次發(fā)射極。其后的工作原理如同電子倍增管，電子被加速到二次發(fā)射極產(chǎn)生多個二次電子，通常每個二次發(fā)射極的電位差在100到200伏特。二次電子流像瀑布一般，經(jīng)過一連串的二次發(fā)射極使得電子倍增，然后到達(dá)陽極。一般光電倍增管的二次發(fā)射極是分離式的，而電子倍增管的二次發(fā)射極是連續(xù)式的。技術(shù)優(yōu)勢：8、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)。常見zeta電位及納米粒度儀生產(chǎn)廠家

Nicomp多峰分布優(yōu)勢 Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。廣東服務(wù)zeta電位及納米粒度儀常見問題

Nicomp多峰分布概念：基線調(diào)整自動補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列儀器的兩個主要特點(diǎn)，Nicomp創(chuàng)始人DaveNicole很早就認(rèn)識到傳統(tǒng)的動態(tài)光散射理論只給出高斯模式的粒度分布，這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符，因?yàn)楝F(xiàn)實(shí)中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)的Nicomp多峰分布理論，提高了動態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。Nicomp多峰分布優(yōu)勢Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不只可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果，更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實(shí)情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計(jì)，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。 廣東服務(wù)zeta電位及納米粒度儀常見問題